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摘要 59L\|OR c#]4awHU Hio0HL- 7z,C}-q 干涉测量法是一项用于光学测量的重要技术。它被广泛应用于表面轮廓、缺陷、机械和热变形的高精度测量。作为一个典型示例,在非序列场追迹技术的帮助下,于 VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-泽德干涉仪。该例证明了光学元件的倾斜和位移对干涉条纹图的影响。 RC"MdcD:]y e{H=dIa+ 建模任务 =I5>$}q_&, ~=LE0. 3[ I][*j N>1em!AS 由于组件倾斜引起的干涉条纹 e>OoyDZ@R }v{LRRi Qel9G($= h"W,WxL8 由于偏移倾斜引起的干涉条纹 G!##X: 6' n8[!pH~6 pllGB6X Yh7t"=o 文件信息 ?z+eWL 9=tIz ~8+ Zs y.k~Y0 4_lrg|X1 wHLLu~m\ TX/Xt7#R: 购买与相关软件试用请联系QQ:1824712522
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