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摘要 lW! U: #P,mZ}G\ PTfy# [KIK}: 干涉测量法是一项用于光学测量的重要技术。它被广泛应用于表面轮廓、缺陷、机械和热变形的高精度测量。作为一个典型示例,在非序列场追迹技术的帮助下,于 VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-泽德干涉仪。该例证明了光学元件的倾斜和位移对干涉条纹图的影响。 *I0{1cST XG
fLi 建模任务 :eQ?gM!, S0V%JY;Gv }(AgXvRq =(kwMJ 由于组件倾斜引起的干涉条纹 |A_yr/f rA9BY :N@ U[\aj;g) _ukKzY 由于偏移倾斜引起的干涉条纹 ^
q]BCOfJ( r40#-A$ h>,yqiY4p 4&IBNc,sn 文件信息 ' bio:1 OczVOb bS ^E&':6( KDP7u Ic4>kKh 8UArl3 0Y#S2ty 购买与相关软件试用请联系QQ:1824712522
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