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摘要 I.-v?1>, ex!XB$X &lq^dFP&Su h mds(lv7 干涉测量法是一项用于光学测量的重要技术。它被广泛应用于表面轮廓、缺陷、机械和热变形的高精度测量。作为一个典型示例,在非序列场追迹技术的帮助下,于 VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-泽德干涉仪。该例证明了光学元件的倾斜和位移对干涉条纹图的影响。 #>XeR>T R2CQXhiJ 建模任务 <&6u]uKrW VjY<\WqbS ljuNs@q l^
Rm0t_ 由于组件倾斜引起的干涉条纹 UP]1(S? e$32 ~o i)Lf1 LJj=]_ 由于偏移倾斜引起的干涉条纹 ~GA8_B jFG5)t<D p&\K9hfi e6 2y 文件信息 R5gado 4~*Y];!Q ><K!~pst} 1|]xo3j"' ]x@~-I ) /'\;8A$J` HA1]M`& 购买与相关软件试用请联系QQ:1824712522
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