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摘要 xUzfBn B!rY\ ?W o{nBtxZ" iv:[]o 干涉测量法是一项用于光学测量的重要技术。它被广泛应用于表面轮廓、缺陷、机械和热变形的高精度测量。作为一个典型示例,在非序列场追迹技术的帮助下,于 VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-泽德干涉仪。该例证明了光学元件的倾斜和位移对干涉条纹图的影响。 Bo)w#X 2;U(r:] 建模任务 _ jF,
k>F zTm&m#){3A 2VtiL^;5 s$| GVv1B 由于组件倾斜引起的干涉条纹 3S
+.]v> MhWmY[ D+#QQH kf.w:X"i 由于偏移倾斜引起的干涉条纹 B]0`b1t ~S#Le jt=mK,% )>C,y`, 文件信息 -h8A< x>Q\j>^ 3|l+&LF!IC ?0Z?Z3)%w4 h@@2vs2 7_ZfV? . Z^>{bW 购买与相关软件试用请联系QQ:1824712522
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