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摘要 .K(9=yh +
jeOZ <;W-!R759 rO.[/#p\ 干涉测量法是一项用于光学测量的重要技术。它被广泛应用于表面轮廓、缺陷、机械和热变形的高精度测量。作为一个典型示例,在非序列场追迹技术的帮助下,于 VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-泽德干涉仪。该例证明了光学元件的倾斜和位移对干涉条纹图的影响。 Oso**WUOZ& trrK6(p 建模任务 U9^1A* Iy4%,8C]g IzUpkwN ~8mz.ZdY 由于组件倾斜引起的干涉条纹 .zt&HI.F i/'bpGrQ( TIl 'Z7 yhbU;qEG9 由于偏移倾斜引起的干涉条纹 r,Xyb` Ug546Bz $57Q
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JrLh=0i9 文件信息 k[D,du') ,.V<rDwN& # |(>UM\ |94o P>d +_pfBJ_$% U?{oxy_[ 2 YG8C<g6E7 购买与相关软件试用请联系QQ:1824712522
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