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I/V CURVE I/V CURVE 集成电路失效分析流程中，I/V CURVE的量测往往是非破坏分析的第二步(外观检查排在第一步)，可见curve量测的重要性。随着器件的pin脚数越来越多，传统的curve tracer(多为手动)没有办法满足时效的需求。Advanced推出的smart-1 auto curve tracer很好的满足了客户的需求，尤其是在BGA等通讯产品方面，具备安捷伦B1500和keithely4200无可比拟的便利性。 主要参数： 1. 高分辨率之I/V量测范围,Voltage Measure Range可达 200mV ~ 200V（需搭配keithly 2400）， Current Measure Range可达1uA ~ 1A，且测试Channel可从 64 pin逐步扩充至Max.4096 pin，以满足客户多元化之产品测试需求。 2. 机台主要测试功能，包括:Open/Short Test、I/V Curve Analysis、Idd Measuring、Powered Leakage (漏电) Test 可协助客户解决其产品在DC Fail之电性分析，并节省客户上Functional Tester 之借机成本及时间。 3.采用电脑化控制的操作系统，比传统的Curve Tracer更易于量取I/V data 及产生格式化的report。 4.s的操作系统，易学易懂，而所建立的Device之Pin Assignment 可储存在电脑中，未来可重复被使用，比传统的Switching Matrix更便利省时。 5.机台可搭配Probe Station及Emmission Microscope做漏电分析。 6.机台本身除了可作产品的失效分析外，还可结合Auto Handler，做Mass Production之Open/Short Test，可谓一机多用。 分享到：
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