摘要
3v G 1S^'C2/b 高
数值孔径的
物镜广泛用于光刻、显微等方面。 因此,在
仿真聚焦时考虑光的矢量性质是至关重要的。
VirtualLab可以支持此类
透镜的
光线和场追迹分析。通过场追迹分析,可以清楚地显示出由于矢量效应引起的非对称焦点。
相机探测器和电磁场探测器可以方便地研究聚焦区域的场,也可以深入研究矢量效应。
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gBfX}EK7F TR|;,A[%v# 建模任务
l4DeX\ly7f _i.({s&_9
TLX^~W[gOm 概述
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JSr •案例
系统已预先设置了高数值孔径物镜。
fyGCfM •接下来,我们演示如何按照VirtualLab中建议的工作流程在示例系统上执行仿真。
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G@;Nz i89 # e$\~c Pd 光线追迹仿真
|@OJ~5H/{ yi&?d&rK •首先选择“光线追迹系统分析器”作为
模拟引擎。
}t}38%1i •单击go!
q^u6f?B •获得了3D光线追迹结果。
a_xQ~:H b,zR5R^D;
R<_mK33hd 5wy;8a 光线追迹仿真
Z<w,UvJa rK*hTjVn •然后,选择“光线追迹”作为模拟引擎。
9#s,K! !3{ •单击go!
@ 8A{ 9i •结果得到点图(二维光线追迹结果)。
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}FuVY><l =H
L9Z 场追迹仿真
D[+|^,^> p.qrf7N$ •切换到场追迹,然后选择“第二代场追迹”作为模拟引擎。
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5WaO) •单击go!
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L;L2j&i%v) 4+BrTGp 场追迹仿真(相机探测器)
k0gJ('zah y-D>xV)n •上图仅显示Ex和Ey场分量积分的强度。
Y}85J:q] •下图显示Ex、Ey和Ez分量积分的强度:由于在高数值孔径情况下Ez分量相对较大,因此可见明显的不对称性。
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39'X$! fp`U?S6 场追迹仿真(电磁场探测器)
wn&[1gBxM •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。
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Imaging of Sub Wavelength Gratings by Using Vector Beam Illumination 1\"BvFE*E~ AX!Md:s (来源:讯技光电)