测试过程

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测试过程 >%[(C*Cks  
产品UNIT 经传送机传入,再经加热处理到恒定温度,再打入TIU上,以接通电流,在TIU主板上，供给CPU特定的电压，进行测试并采集数据。主要包括针脚的信号采集,(其中PXI在这里,是进行温度信号的采集,反馈给SUMMIT ATC 系统控制,)再经GPIB传送到TESTER,以T2000进行数据分析,最后得出结果,再经GPIB传送到CTSC系统显示,和传送到PCS过程系统控制,PCMD等系统中分析和临控.测试完后,再经传送机传出. V!},a@>p  
其中每个产品，都有一个周期，会在这个周期内，对规定的产品及数量，针对性测试。 }clFaT>m?  
产品从上个站点下来，在测试站点，对于不同型号的产品，会有针对性的测试方案。如冷、热测试，常温或高温，还有低温。对于同一个种产品，当再次测试时，会针对其问题，下载不同的测试参数，再测。对有疑问的产品，会对所测的产品，几个到这个批次，几个批次，甚至更多的产品，针对性测试。并还会对所测试已合格的产品，对不同批次，产品类型，采用不同的方案抽样检查测试。如再次发现不合格的，会针对所触发的原因，采取措施，如是产品本生的原因引起，会对这对个周期性内的所有产品，拉回重测。