Dual-beam FIB

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双束聚焦离子束(Dual-beam FIB)：双束聚焦离子束,北京双束聚焦离子束,检测 !ZRV\31%  
Dual-beam FIB机台能在以离子束切割样品时，同时用电子束对断面进行观察。所建置的业界相当高阶机台，具备超高分辨率的离子束及电子束。能针对样品中的微细结构进行奈米尺度的定位及观察，大幅提升失效分析及TEM样品制备的成功率与影像质量。 >qE$:V"_5  
双束型聚焦离子束显微镜的应用，主要以下列所述为主： bm;4NA?Gg  
半导体组件故障分析(能力可达20nm高阶制程) !duR7a  
半导体生产线制程异常分析 ydt1ED0Q-  
磊晶与薄膜结构分析 |fUSq1//  
电位对比测试 ?Rdi"{.wI  
纳米级结构加工