北京芯片失效分析检测

发布:探针台 2019-09-17 14:15 阅读:1296
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失效分析(Failure Analysis or FA)所提供的服务项目 f 3\w99\o  
提供客户做IC组件失效分析,EFA(电性故障分析) ,PFA(物性故障分析)等所需资源与设备 r}Q@VS% %  
提供客户一步到位的分析服务 }" g@E-]N  
提供权威检测报告 d OzO/w&  
可协助解决的故障分析的种类 8Y]u:v  
FIB,SEM,EDX,X-RAY,EMMI.IV,PROBE,RIE,DECAP等 测试后的失效分析服务
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