寿命试验

发布:探针台 2019-09-17 14:12 阅读:1896
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MTBF(Mean Time Between Failures-MTBF) I c 2R\}q  
以加速寿命试验模式进行产品寿命验证已行之有年,相当具代表性之温度加速寿命试验 "MNI_C#{  
为Arrhenius Model(见图A),有关热-金属疲劳寿命则以Coffin-Manson Model为主(见图B),就无铅焊点之寿命评估而言多数国外大厂均采用温度循环应力模式(Coffin-Manson Model)作为PCBA焊点可靠度寿命评估。 nkn4VA?"  
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寿命试验 (6#, $Ze   
对于组成系统后之产品寿命评估则以下列三种为主要模式,其优缺点简述如下: 7 I`8r2H  
寿命预测(Prediction) Q=~ *oYR  
常用方法:通常以零件参数或由零件量测所得之温度作为基础信息,将此信息输入分析软件后即可计算出产品之MTBF(Parts count or Parts stress) VHihC]ks,  
优点:可以快速得到MTBF数值 FLzC kzJ:6  
缺点:零件规格变化快速,预测方法并未随着零件或产品的演进而演进,且零件一旦组成系统时,线路阻抗因素、电压/电流因素等均无法模拟,因此其所预估出之寿命代表性令人质疑
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