抛光技术及抛光液
,n)f=q*% 一、抛光技术
zX=K2tH 最初的
半导体基片(衬底片)抛光沿用机械抛光、例如氧化镁、氧化锆抛光等,但是得到的晶片表面损伤是及其严重的。直到60年代末,一种新的抛光技术——化学机械抛光技术(CMP Chemical Mechanical Polishing )取代了旧的方法。CMP技术综合了化学和机械抛光的优势:
5MU-Eu|*> 单纯的化学抛光,抛光速率较快,表面光洁度高,损伤低,完美性好,但表面平整度和平行度差,抛光后表面一致性差;
:g@H=W 单纯的机械抛光表面一致性好,表面平整度高,但表面光洁度差,损伤层深。
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