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芯片线路修改免费测试 FIB是什么？ FIB中文名称聚焦离子束，英文名Focused Ion beam。是将液态金属离子源产生的离子束经过离子枪加速，聚焦后照射于样品表面产生二次电子信号取得电子像，此功能与SEM（扫描电子显微镜）相似，或用强电流离子束对表面原子进行剥离，以完成微、纳米级表面形貌加工。 FIB线路修改 FIB能做什么事？ FIB是微纳米分析测试的重要方式，主用应用领域有： 1. IC芯片电路修改 2. Cross-Section 截面分析 3. Probing Pad 4. FIB透射电镜样品制备 5. 材料鉴定 免费FIB招募范围： 1. 境内外企事业单位，团体，个人均可报名参加。 2. 铝制程样品线路修改，切线连线（铜制程样品本次不接收）。 免费FIB招募要求： 1. 方案完整，清晰，明确。 2. 每个方案多加一两颗备片。 3. 用户收到测试好样品后，两个工作日内测试样品功能，邮件反馈测试效果。 免费FIB招募时间： 2019年6月28日-2019年7月28日。 样品样品以收到时间为准，方案以邮件时间为准。 免费FIB注意事项： 1. 受样品本身，方案，设备，操作，经验，运输，时效等多方面因素影响，FIB不保证每个方案都能通过测试，对结果要求苛刻的用户请不要参与。 2. 免费FIB优先等级低于付费测试，工程师会在设备空闲时段操作，比常规付费测试所需周期长，对时间要求紧迫的用户请不要参与。避免中间催促影响工程师工作效率和测试质量。测试完成的方案会第一时间反馈给用户，并安排快递送回样品。 实验室介绍： 北京软件产品质量检测检验中心（简称：北软检测）成立于2002 年7月，是经北京市编办批准，由北京市科学技术委员会和北京市质量技术监督局联合成立的事业单位。2004年1月，国家质量监督检验检疫总局批准在北软检测基础上筹建国家应用软件产品质量监督检验中心（简称：国软检测），2004年10月国软检测通过验收并正式获得授权，成为我国第一个国家级的软件产品质量监督检验机构。 中心依据国际标准 ISO/IEC 17025：2005《检测和校准实验室能力认可准则》和ISO 9001：2015《质量管理体系要求》建立了严谨的质量体系，拥有一流的软件测试平台，2600平方米的测试场地，1000多台套的测试设备和上百人的专业测试工程师队伍。目前具有资质认定计量认证（CMA）、资质认定授权证书（CAL）、实验室认可证书（CNAS）、检验机构认可证书（CNAS）、信息安全风险评估服务资质认证证书（CCRC），信息安全等级保护测评机构（DJCP）、ISO 9001：2015质量管理体系认证、ISO/IEC 27001：2013信息安全管理体系认证等各种资质。 芯片测试实验室 智能产品检测实验室于2015年底实施运营，能够依据国际、国内和行业标准实施检测工作，开展从底层芯片到实际产品，从物理到逻辑全面的检测工作，提供芯片预处理、侧信道攻击、光攻击、侵入式攻击、环境、电压毛刺攻击、电磁注入、放射线注入、物理安全、逻辑安全、功能、兼容性和多点激光注入等安全检测服务，同时可开展模拟重现智能产品失效的现象，找出失效原因的失效分析检测服务，主要包括点针工作站（Probe Station）、反应离子刻蚀（RIE）、微漏电侦测系统（EMMI）、X-Ray检测，缺陷切割观察系统（FIB系统）等检测试验。实现对智能产品质量的评估及分析，为智能装备产品的芯片、嵌入式软件以及应用提供质量保证。 参与方式： 送样，快递均可 联系方式： 国家应用软件产品质量监督检验中心 北京软件产品质量检测检验中心 智能产品检测部 分享到：
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