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    [分享]VirtualLab:高NA物镜聚焦的分析 [复制链接]

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    离线xunjigd
     
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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2018-12-10
    关键词: 物镜
    摘要 jd.{J{o  
    BQ:hUF3  
    高NA物镜广泛用于光学光刻,显微镜等。因此,在聚焦仿真中最基本的就是考虑光的矢量性质。 使用VirtualLab对这种镜头进行光线追迹和场追迹分析非常方便。通过场追迹,可以清楚地展示不对称焦斑,这源于矢量效应。相机探测器和电磁场探测器为聚焦区域的研究提供了充分的灵活性,可以让用户深入了解矢量效应。 ]qd$rX   
    ?S<`*O +  
    |NdWx1  
    ~dBx<  
    建模任务 eF"k"Ckt'  
    | LX Vf  
    g:fkM{"{  
    概观 un F=";9H  
    C+L_f_6]  
    Ro@ =oyLE  
    光线追迹仿真 EJW}&e/  
    <dGph  
    •首先选择“光线追迹系统分析器”(Ray Tracing System Analyzer)作为仿真引擎。 G"F)t(iX  
    6}cN7wnm j  
    •点击Go! uXouN$&  
    •获得3D光线追迹结果。 |}o6N5)  
    im3BQIPR  
    s'^sT=b  
    7_Op(C4,nC  
    光线追迹仿真 %a:>3! +  
    X \BxRgl},  
    *e25!#o1  
    •然后,选择“光线追迹”(Ray Tracing)作为仿真引擎。 8|{d1dy  
    •单击Go! vlqL  
    •结果,获得点列图(2D光线追迹结果)。 g)1`A 24  
    *.6m,QqJ(  
    `F$lO2#k  
    R $@$  
    场追迹仿真 6)veuA3]  
    FL {$9o\@  
    @R_ON"h  
    •切换到场追迹并选择“第二代场追迹”(Field Tracing 2nd Generation)作为仿真引擎。 g/ 4ipcG;N  
    •单击Go! CjGQ  
    af'gk&%  
    !C@+CZXLx  
    Bm5\*Xd1(  
    场追迹结果(摄像机探测器) xpp>5d !  
    jN AS'JV  
    ||))gI`3a  
    •上图只显示整合了Ex和Ey场分量的强度。 aH dQi,=z  
    •下图显示整合了Ex,Ey和Ez分量的强度。 lhPxMMS`j  
    Ez分量:由于在高NA情况下相对较大的Ez分量,可以看到明显的不对称性。 h])oo:u'/Q  
    N/zP!%L  
    xE rAs}|  
    FeNNzV=  
    场追迹结果(电磁场探测器) Nt|Fw$3*5{  
    RF= $SMTk  
    _fccZf(yC.  
    •所有电磁场分量均使用电磁场探测器获得。 h=4 GSU  
    CK#i 6!~r  
    Q*hXFayx  
    文件信息 _SnD)k+TgJ  
    }]Nt:_UCX  
    J |w%n5Y  
    1ozb tn  
    更多阅览 1H?I?IT30  
    - Optical System for Inspection of Micro-Structured Wafer HQNpf1=D  
    - Imaging of Sub-Wavelength Gratings by Using Vector Beam Illumination '6cXCO-_P  
    N@Q_5t0bk  
    (来源:讯技光电
     
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    离线songshaoman
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    只看该作者 1楼 发表于: 2019-01-23
    一系列镜子是怎么加上去的?经验么