FRED高级-杂散光工程案例设计与分析
本课程介绍了空间光学系统的杂散光来源，以及对红外光学系统成像质量的影响，在简化分析上，讨论了杂散光分析的物理模型，利用已有的光学系统模型讨论了杂散光计算和分析方法。
 地点时间 主办单位：讯技光电科技（上海）有限公司 上海讯稷光电科技有限公司 常熟黉论教育咨询有限公司 授课时间：2018年8月1(三)-3(五)日 AM:9:00 - PM：16:00 授课地点：常熟高新技术产业开发区湖山路333号同济科技广场1幢305室 课程讲师：讯技光电高级工程师 课程费用：4200RMB （包含课程材料费、开票税金、午餐费用） 课程简介 20世纪70年代以来，随着军事、地质、测绘、环境、资源、以及宇宙探索等各项领域里越来越多地对高性能空间光学仪器的需求，杂散光问题逐渐变的重要起来，促使人们投入大量的人力物力重新开始研究一度被忽视而直接影响成像质量的杂散光问题。杂散光是指到达光学系统像面的非成像光，它对光学系统的影响是非常有害的，其直接影响表现在降低像面的对比度，降低像面的信噪比，并且可能会在像面产生光斑，直接导致像质下降，在某些情况下甚至会导致系统失效，从20世纪20年代人们就开始了对杂散光的研究，特别是近20年的，杂光理论和杂光问题研究要从以下几个方面探索：杂散光辐射理论，系统杂光测试，杂光分析与软件，BSDF数据，杂光抑制设计等。 本课程介绍了空间光学系统的杂散光来源，以及对红外光学系统成像质量的影响，在简化分析上，讨论了杂散光分析的物理模型，利用已有的光学系统模型讨论了杂散光计算和分析方法。用具体的模型说明杂散光分析和计算假设条件，为以后利用软件进行杂散光分析打下基础。 课程大纲 1. 杂散光术语 杂散光路径 关键面和照明面 In-field 和 out-of-field 杂光 内部和外部杂散光 杂散光控制”Move It 、Block It 、Paint/Coat It 、Clean It” 2. 基本辐射度量学-辐射 辐射度量学术语 □光通量、功率、光度学与辐射度量学 □立体角与投射立体角/亮度/强度/BSDF/ PST(点源透射比) 探测器FOV（反向光线追迹） 面纱眩光指数（VGI） 系统自发热辐射的计算及分析步骤 冷反射效应的分析与控制 |
1.行业新闻、市场分析。 2.新品新技术（最新研发出来的产品技术介绍，包括产品性能参数、作用、应用领域及图片）； 3.解决方案/专业论文（针对问题及需求，提出一个解决问题的执行方案）； 4.技术文章、白皮书，光学软件运用技术（光电行业内技术文档）；
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