在LensMechanix中加载、分析并验证一个简单的透镜系统

15.选择最外面距离颜色探测器最远的透镜。

16.在 Display 下，勾选 Flux，选择蓝至红色条，将 Resolution 选为 high，然后点击绿色打勾符号。

图十五. Surface Power 面板，具有显示辐照度功能

验证完整光机系统的性能

1.在 Command Manager 中，点击 Run Ray Trace。

2.在 Run Ray Trace PMP 中，选择 Baseline ray trace 以及 Full ray trace，之后点击 Run。

注意: Baseline ray trace 仅考虑Computational Domain 中的光学元件，Full ray trace 会同时考虑 Computational Domain 中的光学以及机械元件。

3.当光线追迹完成时，点击绿色打勾符号。

4.在 Command Manager 中，点击 Display OPS。

Beam clipping 以及 Image contamination 选项卡的状态标识显示为红色。

5.选择 Image Contamination 选项卡。

Image contamination 下的 LensMechanix Output 单元变为红色，这表明目前性能与最初设计的光学性能相比的偏离值，大于设定的可接受范围。

6.为了更清晰的观察光线如何穿过系统，点击 Display Contaminating Rays。

7.在绘图区点击 Section View。

8.在 Plane 1 区域中，选择 Right Plane 并点击绿色打勾符号。

9.在 Optics Manager 的 Output Tree 下，右键点击由于光学追迹自动生成的光线组。

注意：导致像面污染的光线按照任意路线传播，并打到探测器上。

图十六以及图十七展示了表面屈光度分析的结果。可以看到，部分光线受镜筒影响偏折。基于此，我们需要缩短镜筒。 

图十六. 光机装配体的 Section 视图