波前传感器的技术革命——四波剪切干涉技术

随着科技的进步，人们对精密光学元器件的生产技术指标要求越来越高，波前探测器能给精密的对光学元器件进行检测，实时得到精确的监测数据，对于精密光学元器件的生产无疑产生了一场新的技术革命。相对于传统的干涉仪检测光学元器件的波前，Phasics波前分析仪更适合像差、球差较大的非球面透镜的检测。波前分析仪具有无需标准件，体积小，精度高，数值孔径大（可达0.75），等优点。上海昊量光电设备有限公司可根据客户的实际检测需求，做个性化的波前传感器检测方案。

 

4、激光等离子体检测分析

法国Phasics公司（昊量光电代理）SID4系列等离子体分析仪(Plasma Diagnosis)是一款便携式、高灵敏度、高精度的等离子体分析仪。该产品基于波前分析的四波剪切干涉技术，可实时检测激光产生的等离子体的电子密度、模式及传播方式。可实时的监测等离子体的产生、扩散过程，以及等离子体的品质因数。可以更好地为客户在喷嘴设计、激光脉冲的照度、气压、均匀性等方面提供最优化的数据支持。

 

除此之外，波前分析仪还被广泛的应用于红外、近红外探测；平行光管/望远镜系统的检测与装调；卫星遥感成像、生物成像、热成像领域；球面、非球面光学元器件检测 (平面, 球面, 透镜)；虹膜定位像差引导；大口径高精度光学元器件检测；激光通信领域；航空航天等领域。