LightTools中的局部分析功能

我们都知道在LightTools中有正向追迹和反向追迹，其中正向追迹属于全局分析（即查看系统整体模拟结果），而反向追迹属于局部分析（即可以查看接收器上某一点或某一区域模拟结果）。如果我们要分析目标接收器上某一个区域的具体能量分布情况时，那么反向追迹是很好的模拟办法，但是如果我们还想查看造成这个区域能量分布是如何形成的（即形成的光路是什么）？这时使用反向追迹来查看就比较麻烦了，因为反向追迹所显示的光线都是随机产生的，如果你要查看产生该区域能量的光线路径，那么你就需要让反向追迹显示大量光线，显示了还不一定能看清楚（因为光线太多可能会干扰视线）。为了解决这种问题，LightTools 8.1版本新增加了局部分析功能，这个功能提供一个简单而快速的方法来帮助我们分析这类问题。那么此次简报我们就来学习如何使用该功能。

如下图所示，我们这个例子比较简单，使用一颗LED光源和一个接收器。LED光源的具体构造由LED芯片，反光碗，电极线，外透镜组成，模拟完成后在接收器上可以看到该LED的整体照度能量分布。

图1.LED模型

查看照度能量分布结果，在菜单栏依次选择Analysis>Illuminance Display>LumViewer ，这时我们可以清楚的看到在这个能量环的正下方有一个凹陷区域，这个凹陷区域是怎么形成的？我们如何查找出它形成的原因呢？这时我们就可以使用局部分析功能来检查该凹陷区域形成的原因。

图2.照度模拟图