OpticStudio 14.2新版本功能介绍

“功能查找器”也可通过用户界面右上角的新“搜索”窗口获取，“运行功能”由箭头图标表示，而“高亮显示功能”则由放大镜图标表示。

新的快捷键和快速访问工具栏各项功能中都新增了搜索功能，“零件设计器”也有相当于“功能查找器”的类似功能。

经许多客户请求后，还提供了 PDF 格式的“帮助系统”   

用户界面现在除了支持日语、德语和英语之外，还支持中文

新增优化功能

GetOperand DDE 数据项目现在可报告多一位小数位，实现了更高的精度（仅限 Professional 和 Premium 版）。

XENC 和 XENF 优化操作数现在支持波长参数。

MTFA、MTFS 和 MTFT 优化操作数现在可报告真实数据和虚构数据。

近轴高斯光束优化操作数现在接受 M2 输入值。

新增 GBPZ 优化操作数，可计算近轴高斯光束的瑞利范围。

新增分析功能

通量 vs 波长分析现在支持 SDF 光源文件（仅限 Premium 版）。

图像仿真算法拥有极大改善的算法，可处理超广角系统中的畸变   

物理光学传播窗口现支持“传播报告”选项卡，可直接访问该重要工具（Professional 版和 Premium 版）

新增了一个按比例打印布局图的选项，以及一个“最佳拟合”打印方向控件。该功能会根据要打印窗口的纵横比，自动选择“横向”或“纵向”模式。两个选项都在“配置选项...图像”下方。

当保存“分析”窗口到剪贴簿时，或保存为任何支持的文件格式时，会按屏幕上显示的像素大小来保存该窗口。. 

其它修改

由于缺少 .NET framework 框架的支持，取消了对导出 EMF (Enhanced Windows Metafile) 格式的图形的支持，该功能已不再可用。