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    [转载]各種雜散光分析工具介紹 [复制链接]

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    离线光杆司令
     
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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2017-05-09
    摘要:在OpticStudio中從設計鏡頭到分析雜散光為止是一個完整的設計流程,軟體中內建各種工具讓序列模式到非序列模式能輕鬆的無縫接軌,其中包含一鍵轉換非序列,以及關鍵光線組等工具。 P}+2>EU  
    本文章將使用內建的雙高斯鏡頭示範在OpticStudio中如何分析雜散光,內容包含: V^9$t/c &  
    * 介紹雜散光 ^l&nB.  
    * 轉換序列式設計到非序列模式 l@~1CMyN  
    * 設計鎖定工具 d.L OyO  
    * 關鍵光線組產生器 & 追跡 +p8qsT#7  
    * 用 Filter String 篩選光路徑 d*]Dv,#X  
    * 使用 Path Analysis 工具分析光路徑 r.Y*{!t  
    uDpf2(>s  
    文章發布時間:April 23, 2017 wBg<Q{J  
    文章作者:Michael Cheng (ra:?B  
    C+X)">/+L  
    簡介 ( [K2:n\  
    使用者用序列模式設計鏡頭,處理完成像品質、畸變、相對照度以及公差分析等問題之後,在原型製作之前,還會需要進行機構相關的分析,以避免出現多重反射的鬼影或強烈光源散射的雜光。一般來說,雜散光係指那些不經由設計好的路徑進入系統,最後在成像面上產生無法忽視、並且可見的影像的光線。下圖為一個不良系統產生強烈雜光的範例: 6#OL ;Y]_  
    NvEm,E\|  
    Jslk  
    在照相領域中,常見的雜光來源就是視野外的強烈光源 (例如太陽) 透過機構的散射,或是視野內的光源通過鏡片二次反射,聚焦到像面上這兩種。而在其他系統,例如天文望遠鏡,可能還會有其他類型的雜光問題。以下是一個雙重路徑的範例: / c4;3>I S  
    eL]{#WL  
    }<6oFUZ  
    o+]Y=r2  
    開啟範例檔 Gr`MGQ,  
    首先讓我們開啟內建範例檔Samples\Sequential\Objectives\ Double Gauss 28 degree field.zmx E.?E~}z  
    作為前置作業,讓我們先把所有的鍍膜都取消,因為接下來我們要來研究哪個鍍膜的效果較好。 UY?i E=  
    6ctHL<^  
    I rtF4ia.  
    n25irCD`  
    設計鎖定工具 K> c8r8!  
    接著我們執行Design Lockdown工具,此工具會調整使用者的系統設定,使鏡頭符合實際運作的條件,分析結果更正確。 va`l*N5  
    粗略來說,這個工具所執行的步驟如下: 2rPcNh9  
    * 開啟 Ray Aiming \O8Y3|<  
    * 系統孔徑設為 Float By Stop Size GI0x>Z+  
    * 改為 Angle 或 Object Height owfp^hla  
    * 固定表面孔徑:Circular Aperture ZXF AuF  
    * 移除漸暈係數 p?J~'  
    關於更詳細的說明,使用者可以參考Help文件的說明。 xI/{)I1f  
    %igFHh?  
    o<C]+Nt,@  
    1qB!RIau  
    產生關鍵光線組 FgFJ0fo  
    在轉換到非序列模式之前,讓我們先匯出序列模式中的關鍵光線,這包含主光線以及一系列的邊緣光線。這讓我們稍後可以直接在非序列系統中,直接檢查這些原本需要在序列模式中才能計算的光線。操作方法如下: 2<46jJYL'  
    WH pUjyBP  
    k"Z"$V2i  
    %a)0?U  
    轉換到非序列 r`&2-]  
    在OpticStudio分析雜散光最方便的就是,我們只需要一個步驟,就能快速地切換到非序列模式中。  kg/+vJ  
    有關於序列到非序列模式的切換,我們在知識庫中有另一篇非常詳細的文章,讀者有興趣可以參考,此文章標題為:轉換序列式面到非序列物件 (>!]A6^L~  
    0)6i~MglY  
    !s#'pTZk4  
    |.Y@^z;P3  
    按一下OK後,可以系統已經變更如下。以下是非序列的元件列表,可以看到我們編輯的對象已經不再是Surface,而是Object。編輯器中還可以看到我們也建立了光源、探測器等物件,他們的位置跟原本序列式系統中的像面,視場之設定都是完全對應的。此系統除了是建立在非序列模式下之外,跟原本序列模式並無不同。 }[=xe(4]D  
    uQ)JC 7b\  
    VuX >  
    Yj^avO=;  
    非序列模式中系統的運作方式跟序列模式有很大的不同,其中一個就是光線可以分裂。讓我們打開NSC 3D Layout視窗,並勾選 “Split NSC Rays”,就可以看到如下圖: 6b#:H~ <  
    [9db=$v8$  
    X]&;8  
    '%n<MTL  
    我們也可以用Shaded Model觀看,效果如下: Dr8WV \4@  
    #f|NM7  
    +WU|sAK"  
    h a,=LV  
    檢查關鍵光線組的狀況 ${E[pT  
    讓我們點一下Critical Ray Tracer工具如下,可以看到各個視場的主光線與邊緣光線都能正常通過。當使用者設計好機構元件時,將會需要把機構元件的CAD檔匯入,再次使用此工具,確保機構沒有不小心遮蔽到主要光束 !i~x"1  
    |1<]o;:  
    n!l./>N  
    2 0Cie q  
    分析雜散光所需的設定 Cu ['&_@  
    在開始追跡檢查雜光狀況之前,讓我們先來調整一些必要的設定。 #Vn>ue+?  
    首先是把最大光線分裂次數,以及最大光線與物件交會次數調整到最高,在雜光的分析中,有時候我們想要分析的光線是經過非常多次反射產生的,如果分裂次數或交會次數的設定不足,可能無法充分分析到所有狀況。 `PQ?8z|  
    (^s&M  
    9rpg10/T  
    )$l9xx[  
    然後我們把追跡的光線數降低到5000條,原因是分析雜散光時,通常一條光線會分裂為非常多的子光線,比起不分裂的狀況,速度可能慢上十幾倍到百倍不等,這邊以示範為目的,因此我們把光線數量控制到較少的5000。 HX /GLnY/X  
    <y\ Z#z  
    </+%R"`  
    M3jv aI  
    最後一步是把探測面的像素數設為150x150,這會讓追跡的速度較快。 YvxMA#  
    9A* ?E  
    z 1#0  
    f'zU^/$rf  
    初步追跡結果 !UgUXN*  
    然後我們就可以看看初步的追跡結果了。請開啟追跡,如下圖設定操作。 8f{}ce'E*  
    注意如下圖所示,追跡時要勾選 “Use Polarization” 以及 “Split NSC Rays”。 fbzKO^Ub  
    zT4ulXN  
    UgD'Bi  
    .5KC'?  
    追跡完畢後開啟Detector Viewer,此工具的位置如下。 C<wj?!v,F[  
    lEYT{  
    eF8 aB?&"  
    %!HnGwv-  
    並且設定視窗如下圖。 }{kTh%^  
    /_VRO9R\V  
    HgSmAziv  
    {xBjEhQm  
    可以初步看到這個系統中因為多次反射造成的雜光。 pw<q?q%  
    rjpafGCp  
    5|~r{w)9  
    bE`*Uw4  
    使用Filter String _/sf@R  
    現在我們要找出這些雜光的發生原因,並探索減少這些雜光的方法。下圖顯示了到達像面上非預期反射光(鬼影光)。為了特定出這些特定的光線,我們使用了OpticStudio中的「Filter String」的功能(下圖中紅框框起來的部分)。 {YKMQI^O/  
    PgG |7='  
    rlO%%Qn`  
    !6tC[W`  
    接下來我們要使用一個快速的技巧,從前述的鬼影光線中,把入射到像面(探測器)上、能量較強的光線分離出來。這個技巧是透過設定最小相對光線強度達成的,如下圖紅框的部分,此處可以指定欲追跡光線能量的最小值。輸入的數值代表光線相對於自身從光源出發時的比例,預設是1x10^-6,代表光線會一直追跡值到小於出發時能量的0.0001%。 ~0^,L3M  
    現在請輸入0.005,這會告訴OpticStudio當光線能量小於原始能量的0.005倍時,就停止追跡。 \_I)loPc8  
    SJ~I r#  
    CI,`R&=xO  
    6JFDRsX>)?  
    此時回到Layout中,重新整理多次之後,可以看到以下幾種路徑。 EYx2IJ  
    .e _D3Xp<  
    R !%m5Q?5  
    Am0.c0h  
    i[t=@^|  
    J! 6z  
    給透鏡加上鍍膜 z$BnEd.y=:  
    為了輕減這些鬼影光,我們在透鏡上使用鍍膜。讓我們在鬼影光產生的兩個面上面設定膜層(coating),並了解其效果。 3@cJ=   
    這裡我們在 *liPJ29C[  
    物件6的Face 2以及 :UhFou_D4l  
    物件10的Face 1上指定名稱為AR的鍍膜。 7f\^VG  
    Qqhb]<z  
    mN'9|`>V>  
    Kf?{GNE7  
    再次追跡之後,就可以看到周圍的鬼影量大幅降低。 syN b0LR  
    55\X\> 0C7  
    /6+%(f}7l  
    ^? {kj{v  
    CMG`'gT  
    分析特定區域的光 (使用Filter String) J,=E5T}U^  
    初步排除基本雜光之後,我們現在發現在畫面中還有一個不可解釋的雜光,現在假設我們想知道下圖這個圓弧是哪裡來的,要怎麼辦? ge {4;,0=  
    Ae_ E;[mj  
    yxP?O@(  
    K7O? {/  
    這裡我們要再次使用Filter String。在OpticStudio中,Filter String 的功用主要是利用光線的特徵來篩選光線。在Help文件中,可以查閱將近100個的指令。此外如同前面示範的,我們還可以使用邏輯符號,例如「&、|、^」等,來組合出無限多種篩選條件。 4tTZkJc  
    現在我們要利用以下四個指令的組合,來達成篩選上述區域的功能。 (&]15 FJ$1  
    Ah>krE0t  
    T4}?w  
    $9i5<16  
    現在讓我們重新追跡,並且這次追跡時,要勾選Save Rays的選項,如下圖。 tEX~72v  
    這會告訴OpticStudio把光線追跡過程中的所有歷史都儲存下來。 ^$Io;*N4  
    7fzyD  
    :XQ  
    |16BidWi  
    然後我們回到Layout中,讀取顯示剛剛儲存的追跡歷史,並輸入剛剛的Filter String。 [ 6o:v8&3  
    yzNX2u1  
    0l1]QD+Gc5  
    }.$ B1%2  
    注意我在前面額外追跡設定了{#50},這代表要篩選出代表性的50條光線。 x5 ~E'~_  
    \HQb#f,  
    回到Layout中,就可以看到系統確實顯示出所有到達像面中該位置光路徑。 "A1yqK  
    但這裡出現了一個問題,那就是我們發現有太多可能的路徑。 cf!k 9x9Z  
    根據經驗,我們知道不可能所有的路徑都是強烈的,這些路徑中,很可能其中一到兩個才是主要的雜光兇手。我們應該關注那些貢獻最多能量的路徑。 3Q~&xNf  
    Nt^&YE7d:  
    K<w5[E9V.  
    |AfQ_iT6c  
    ?.A/E?Oc  
    p;t!"I:`?  
    進階路徑分析 dDn4nwH  
    因此這裡我們就開啟進階路徑分析工具,工具位置如下。 U?^|>cMr  
    注意我們一樣可以把剛剛的Filter String輸入到此工具中。 8'xnhV  
    4qz{ D"M  
    ^-;Z8M  
    n03SX aU~V  
    分析後可以看到所有路徑中,幾乎所有能量都集中在 3 > 6 > 15這個路徑上。 R"t$N@ZFb  
    讓我們回到 Layout 看看是哪個路徑。 Xsn- +e  
    把進階路徑分析工具中找出來的第一條路徑輸入到Filter String中的方法很簡單,只要在原本的Filter String最後面加上一個_1即可。,可以看到如下圖。 bfI -!,  
    f -nC+   
    Lpbn@y26<  
    (@o />T  
    啊哈!分析發現原來這是因為我們還沒有加上機構產生的路徑,實際上這是不會發生的。這個路徑也同時解釋了為什麼我們看到的雜光是一個圓弧狀。 \fR:+rbQ&|  
    Lm{ o=v  
    下圖是使用第二、第三、第四路徑的分析結果,跟前面一樣,我們只要在Filter String的最後方加入_2、_3、_4即可。 (dip Ks?K  
    V1>94/waa  
    %` [`I>  
    . _t,OX$  
    Odtck9L  
    ~S>ba']  
    RTY4%6]O  
    W!B4< 'Fjc  
    |#jm=rT0y  
    *-LU'yM6Yh  
    (转自:中文版 Zemax Forum )
     
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    只看该作者 1楼 发表于: 2017-05-10
    这个功能不错
    离线yinge丶
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    只看该作者 2楼 发表于: 2017-05-12
    多谢楼主分享
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    只看该作者 3楼 发表于: 2017-05-12
    这个操作起来有点繁琐,不如tracePro来的简单明了
    离线villonwyz
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    只看该作者 4楼 发表于: 2019-02-27
    dio中從設計鏡頭到分析雜