[讨论]光控镀膜时，光控片及监控波长的使用方法 [复制链接]

我们一般是两层（我是新柯隆的） o\><e1P   uF,%N   
先镀高折射率，再镀低折射率。 wKpb%3   ^CwS'/fdN  
另外，监控波长的选择也很有讲究， - q(a~Ge   `5t~ Vlp  
最好是过波峰后下行20%以上。这样控制最准确。 ShlTMTgS   Rv*x'w ==  
T.')XKP)1N   $v{sb,  
如果第一层镀低折射率，会影响准确度。

各位大神 +Y~,1ai 5^  
宽波段时（近红外）监控波长如何设定

长江:我们一般是两层,光驰机器，先高折射 率，后低折射率 (2016-09-10 20:24)  jd|? aK;(  

%+U.zd$  
同是光驰机，也是监控两层

我们一般控制一个光控点控制两层，高折射率一层，低折射率一层 AXhV#nZt0
 

回头比例一般控制在5~95%

ouyuu:我们一般是两层（我是新柯隆的） `uRf*-   
先镀高折射率，再镀低折射率。 e_3KNQ`kA  
另外，监控波长的选择也很有讲究， 8SmtEV[b3  
最好是过波峰后下行20%以上。这样控制最准确。
....... (2014-04-04 15:06)  ="fq.Tt  

99Jk<x k  
为什么第一层镀折射率会影响精准度?

第一层低折射率，常常为二氧化硅，因为其折射率跟监控片接近，光量变化不大，光控不容易判断准确。 B-63IN  
第一层用二氧化硅还是很普遍的，也有优点。 .;6G?8`  

dcfcwdx:为什么第一层镀折射率会影响精准度?[表情] (2018-09-02 12:00)  bTzVmqGY  

02]9OnWw  
膜林的专家已经讲的很清楚了。 zT}Qrf~  
因为光控片的折射率和SIO2接近，直接在光控片上镀SIO2光量变化很小， UV>^[/^O  
放大后的光控波形上能看到有很多毛刺，这会影响光控电脑判断PEAK和截止点的精确度。 C~M~2@Iori  
先镀高折再镀低折则能避免这种情况。 A%u@xL,_  
ZIAiVq2)  
HF-Msu6  
rVkoj;[  

我司是用光馳 [~)i<V|qJ  
9frx
60  
一個監控點=控制兩層(高、低折射率) 5|1&s3/f  
xM%E;  
高折射 start set 20 ；低折射 start set 80 $4kc i@.  
!D%*s,t\'  
選擇監控波長，我會選過一轉折點後的30%左右。 ~c!zTe  
=S@$"_&  
另外注意的是 還要配合一開始校正光源的頻譜圖，避開一些不好的監控點

看评论有很大帮助，不然一头雾水