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    [求助]晶体端面损伤 [复制链接]

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    离线jasonjjtu
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    只看该作者 10楼 发表于: 2013-12-03
    因为一个是键合YAG晶体和普通的YAG晶体，端面透过率和抗损伤阈值都是一样的，区别在于键合的晶体是直腔，即“输出镜+键合YAG晶体+全反镜”这种组合腔型从来没有出现过端面污染和损伤，并且做结构设计时没有考虑密封，用的塑料也没有特意挑选。出现污染的是“输出镜+普通YAG晶体+偏振片+调Q+偏振片+全反镜”这种组合模式，最早出现污染的地方是靠近输出镜的YAG晶体端面
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    离线jasonjjtu
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    只看该作者 11楼 发表于: 2013-12-03
    真心希望大家来指教，本人不吝感谢，如在北京，我登门请教也行，或留个电话，我来电咨询
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    离线bingliang
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    只看该作者 12楼 发表于: 2014-11-22
    楼主问题解决了没有啊？
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    离线北方de狮子
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    只看该作者 13楼 发表于: 2016-10-12
    楼主您好，请问您的问题解决了吗？我现在遇到同样的问题。 TTbJ9O<43  
    看您描述，您在运行一段时间后看到晶体端面污染现象吗？ p$= 3$I  
    我们刚开始也认为是热透镜造成的，但对模块的人透镜测试结果将这个原因否定了，现在项目卡住了，
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    离线yzhuang
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    只看该作者 14楼 发表于: 2016-10-17
    个人感觉是膜层抗激光阈值不够
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