!lTda<;]
要如何使用倾斜的detector看到不同周期的干涉条纹 =Q<L
eh=G
C$d>_r
这边有一个Michelson Interferometer, maNW{"1
2 rN ,D(
我试着调整DETECTOR的角度, 但它记录到的影像都一样, h5"Ov,K3[
j}:~5 |.
照理来说调整DETECTOR角度的话干涉条文应该会一边粗一边细周期不一, x[Im%k
k`\R+WK$
但我这里无法看到,
fvEAIs
;apzAF
请问该如何处理呢, 8z2Rry
w
?+0GfIV
下面是程式 e5?PkFV^a1
n6MM5h/#r
--------------------------------------------------------------- C[uOReo
SYSTEM NEW g&Vcg`
RESET uH@FU60
WG7k(Sp]
UNITS CENTIMETERS XL$* _c <)
WAVELENGTH 632.8 NANOMETERS =IU*}>#
9H0Hu]zM
WL=632.8E-7 l|/LQ/
PI=4*ATAN(1) lFSe?X^
e:w&(is
COATING PROPERTIES UPiW73Nu
0.0 0.0 'ABSORB' ({^9<Us
0.0 1.0 'TRANSMIT' Rp9fO?ZjHt
1.0 0.0 'REFLECT' V\]" }V)"
0.5 0.5 'BEAM_SPLITTER' lrWQOYf2
+7V{ABfGl
PL=100 !! Path length Wg`AZ=t
DIA=50 !! Diameter (u3s"I
d
Y&HK