介绍了以光时域
反射仪（OTDR）为代表的
光学链路连续分布
参数的的反射式
测量技术。在阐明OTDR基本测量
原理和实现方式的基础上，着重讨论了时域相关测量，频域测量和干涉测量技术各自的特点及对测量精度的改进。
SvvUkQ#1w ')S;[= v 一、概述
zq5'i!s !0 m"c :"I6 光学分布探测是一种适用于
光纤等连续光学链路的特征参数测量的技术。反射式分布探测是基于测量光背向散射信号，由光传输特性的变化来探测、定位和测量光纤链路上因熔接、连接器、弯曲等造成的光学性能改变。光时域反射仪OTDR是这种技术的典型应用。OTDR可以测量整个光纤链路的衰减并提供与长度有关的衰减细节,测量具有非破坏性、测量过程快速方便、结果准确直观的特点。因此在生产、研究以及通信等领域有广泛应用。为了提高测量性能，在OTDR的基础上提出了时域相关测量，频域测量和干涉测量等改进的测量技术。
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