RT 对一个相对复杂的
系统（用TracePro4.16的expert版，包含双折射
晶体、自定义
光栅、还有较多的螺纹）
杂散光分析时，用的simulation模式，可是还是出现如下问题
,pa=OF 首先是runtime error
_tfi6UQ&lY :jGgX>G G 
!6eF8T xN 44>3# 另外还有
2UEjn>2 o*xft6U 
6<9gVh<=w C^ Oy.s 
t#=FFQOt ]Yt,|CPe2 请问此问题何解啊何解？？？头疼啊，已经用simulation模式了，
光线阈值又不能设太低，要不然像面根本就没有杂散光光线，重点采样也初步设了点，
?xtP\~ 这个，是不是
软件版本问题啊，感觉这个版本有点不稳定…… 可是又找不到更高的可用版本，求推荐版本啊
H`NT `BE 这里还有一个重要的问题是光栅的问题……这个比较复杂，这里也说不清楚……额，我怎么这么多问题，头都大了，希望各位帮忙啦，谢谢各位神奇的斑竹啦
