浙江大学光学薄膜设计软件 _ S%3?Q
Autofilm 1.0功能简介 m":lKXpQ
Autofilm 1.0是浙江大学薄膜研究所开发的一套光学薄膜计算机辅助设计系统,它包括光学薄膜特性计算、优化设计和监控误差模拟三大模块。各个模块的基本功能如下: k fS44NV
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l 特性计算: 给定膜系每层的折射率和光学厚度,以及基板、入射介质等参数,求得各个波长上的光学特性。 J
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(1) 可以计算特定波长和入射角的反射率、透过率、反射位相变化、透射位相变化等特性值。 WO{V,<;
(2) 绘制透、反射率,位相变化相对于波长和入射角的曲线。 E _d^&{j
(3) 绘制特定波长、入射角下的导纳图。 w yi n
(4) 可计算有吸收、色散的膜系,系统提供了材料库,用户可自行修改材料库中的值和新增材料。 6}bUX_!&s
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l 优化设计:给定特定波长和入射角情况下所要求的特性,求出膜系的结构。 /y/O&`X(
(1) 可以针对特定波长和角度下各种偏振状态的反射率、透过率、位相变化、位相变化差等条件进行优化。 uN1(l}z$
(2) 系统中提供了五种优化合成的方法:Powell共轭法和单纯形法这两种局域搜索的方法;统计试验法和遗传算法这两种带有随机性质的搜索方法;Needle方法这种自动合成的方法。 y7J2:/@[x
(3) 各种优化合成的方法可以随时中断并交替使用。 =8BMCedH|
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l 监控误差模拟:给定材料折射率及监测信号误差,用计算机模拟最后得到的膜系结构,分析成品率。 'lwLe3.c
(1) 可以针对每一层输入折射率的误差范围,同时输入总的信号监测误差,计算并绘制出最后的特性曲线。从曲线的离散程度可以分析出成品率的高低。 9Qja|;
(2) 同时给出模拟得到的膜系结构。