切换到宽版
  • 广告投放
  • 稿件投递
  • 繁體中文
    • ZEMAX光学系统设计实战 Zemax光学设计从基础到实践 成像衍射光学元件设计及应用 现代光学与光子学技术
    讯技光电:VirtualLab Fusion独家供应商 微小光学与微透镜阵列 光学设计与光学元件 计算光学带来的成像革命
    发帖 回复
    返回列表
    • 4845阅读
    • 1回复

    [其它]镀铟膜层厚度测量 [复制链接]

    		 上一主题 下一主题
    离线冰人
    实习生
     
    发帖
    68
    光币
    11
    光券
    0
    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2008-12-14
    如图，图中红色部分镀在铜件表面的铟膜，厚度为几微米！ $XBK_ 5  
    _VtQMg|u  
    求助该如何测量其具体厚度！要用到什么样的设备和什么样的测量方法？ *H>rvE.K?  
    十分感谢！
     
    回复
    举报
    分享到
    离线liu8209
    实习生
    发帖
    3
    光币
    7
    光券
    0
    只看该作者 1楼 发表于: 2009-08-26
    美国薄膜厚度测量仪器公司Filmetrics (filmetricsinc.cn) 已经开发出简便易行而经济有效利用光谱反射率精确测量氧化铟锡的设备。 仪器 F20-EXR 提供 400-1700nm 波长，可对氧化铟锡薄膜进行可靠的厚度分析。详情请查公司中文网站。
    回复
    举报
    发帖 回复
    返回列表