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    [原创]浅谈LED封装 [复制链接]

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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2008-10-18
    提高取效率降热阻功率型LED封装技术 ^?xXP=/  
    R4JO)<'K&  
    a4: PufS  
    超高亮度LED的应用面不断扩大,首先进入特种照明的市场领域,并向普通照明市场迈进。由于LED芯片输入功率的不断提高,对这些功率型LED的封装技术提出了更高的要求。功率型LED封装技术主要应满足以下两点要求:一是封装结构要有高的取光效率,其二是热阻要尽可能低,这样才能保证功率LED的光电性能和可靠性。 28BiuxVW  
    ak;Z;  
    半导体LED若要作为照明光源,常规产品的光通量与白炽灯和荧光灯等通用性光源相比,距离甚远。因此,LED要在照明领域发展,关键是要将其发光效率、光通量提高至现有照明光源的等级。功率型LED所用的外延材料采用MOCVD的外延生长技术和多量子阱结构,虽然其内量子效率还需进一步提高,但获得高发光通量的最大障碍仍是芯片的取光效率低。现有的功率型LED的设计采用了倒装焊新结构来提高芯片的取光效率,改善芯片的热特性,并通过增大芯片面积,加大工作电流来提高器件的光电转换效率,从而获得较高的发光通量。除了芯片外,器件的封装技术也举足轻重。关键的封装技术工艺有: % e1vq  
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    散热技术 <qRw! 'S^  
    ;. :UfW  
        传统的指示灯型LED封装结构,一般是用导电或非导电胶将芯片装在小尺寸的反射杯中或载片台上,由金丝完成器件的内外连接后用环氧树脂封装而成,其热阻高达250℃/W~300℃/W,新的功率型芯片若采用传统式的LED封装形式,将会因为散热不良而导致芯片结温迅速上升和环氧碳化变黄,从而造成器件的加速光衰直至失效,甚至因为迅速的热膨胀所产生的应力造成开路而失效。 TPEZ"%=Hg  
    !Xj m h$F  
        因此,对于大工作电流的功率型LED芯片,低热阻、散热良好及低应力的新的封装结构是功率型LED器件的技术关键。可采用低阻率、高导热性能的材料粘结芯片;在芯片下部加铜或铝质热沉,并采用半包封结构,加速散热;甚至设计二次散热装置,来降低器件的热阻。在器件的内部,填充透明度高的柔性硅橡胶,在硅橡胶承受的温度范围内(一般为-40℃~200℃),胶体不会因温度骤然变化而导致器件开路,也不会出现变黄现象。零件材料也应充分考虑其导热、散热特性,以获得良好的整体热特性。 ,.}PZL  
    IW BVfN->}  
    二次光学设计技术 KuI>:i;  
    {U(h]'  
      为提高器件的取光效率,设计外加的反射杯与多重光学透镜 $oua]8!  
    !s)$_tG  
      功率型LED白光技术 (I~,&aBr  
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      常见的实现白光的工艺方法有如下三种: Y]gt86  
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    (1)蓝色芯片上涂上YAG荧光粉,芯片的蓝色光激发荧光粉发出540nm~560nm的黄绿光,黄绿光与蓝色光合成白光。该方法制备相对简单,效率高,具有实用性。缺点是布胶量一致性较差、荧光粉易沉淀导致出光面均匀性差、色调一致性不好;色温偏高;显色性不够理想。 !J6s^um  
    n'h )(^  
    (2)RGB三基色多个芯片或多个器件发光混色成白光,或者用蓝+黄绿色双芯片补色产生白光。只要散热得法,该方法产生的白光较前一种方法稳定,但驱动较复杂,另外还要考虑不同颜色芯片的不同光衰速度。 \iE'E  
    <WbD4Q<3?  
    (3)在紫外光芯片上涂RGB荧光粉,利用紫光激发荧光粉产生三基色光混色形成白光。由于目前的紫外光芯片和RGB荧光粉效率较低,仍未达到实用阶段。 }> 1h+O  
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    我们认为,照明用W级功率LED产品要实现产业化还必须解决如下技术问题: /w!' [  
    Nm081ic2<  
    1.粉涂布量控制:LED芯片+荧光粉工艺采用的涂胶方法,通常是将荧光粉与胶混合后用分配器将其涂到芯片上。在操作过程中,由于载体胶的粘度是动态参数、荧光粉比重大于载体胶而产生沉淀以及分配器精度等因素的影响,此工艺荧光粉的涂布量均匀性的控制有难度,导致了白光颜色的不均匀。 "4?hK  
    I] "$h]T  
    2.片光电参数配合:半导体工艺的特点,决定同种材料同一晶圆芯片之间都可能存在光学参数(如波长、光强)和电学(如正向电压)参数差异。RGB三基色芯片更是这样,对于白光色度参数影响很大。这是产业化必须要解决的关键技术之一。 h.Dk>H_G  
    TwhK>HN  
    3.根据应用要求产生的光色度参数控制:不同用途的产品,对白光LED的色坐标、色温、显色性、光功率(或光强)和光的空间分布等要求不同。上述参数的控制涉及产品结构、工艺方法、材料等多方面因素的配合。在产业化生产中,对上述因素进行控制,得到符合应用要求、一致性好的产品十分重要。 n `Xz<Q!  
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    检测技术与标准 =}"hC`3e  
    1Ev+':%  
         随着W级功率芯片制造技术和白光LED工艺技术的发展,LED产品正逐步进入(特种)照明市场,显示或指示用的传统LED产品参数检测标准及测试方法已不能满足照明应用的需要。国内外的半导体设备仪器生产企业也纷纷推出各自的测试仪器,不同的仪器使用的测试原理、条件、标准存在一定的差异,增加了测试应用、产品性能比较工作的难度和问题复杂化。 RYhdf  
    .BUl$RW|  
         我国光学光电子行业协会光电子器件分会行业协会根据LED产品发展的需要,于2003年发布了“发光二极管测试方法(试行)”,该测试方法增加了对LED色度参数的规定。但LED要往照明业拓展,建立LED照明产品标准是产业规范化的重要手段。 Sd\@Q% }o\  
    0$_imjZ  
    筛选技术与可靠性保证 Q:Ms D.  
    M!jW=^\  
          由于灯具外观的限制,照明用LED的装配空间密封且受到局限,密封且有限的空间不利于LED散热,这意味着照明LED的使用环境要劣于传统显示、指示用LED产品。另外,照明LED是处于大电流驱动下工作,这就对其提出更高的可靠性要求。在产业化生产中,针对不同的产品用途,进行适当的热老化、温度循环冲击、负载老化工艺筛选试验,剔除早期失效品,保证产品的可靠性很有必要。 aw4+1.xy  
    .>nd@oU  
    电防护技术 -*Pt781  
    1*jL2P]D  
          由于GaN是宽禁带材料,电阻率较高,该类芯片在生产过程中因静电产生的感生电荷不易消失,累积到相当的程度,可以产生很高的静电电压。当超过材料的承受能力时,会发生击穿现象并放电。蓝宝石衬底的蓝色芯片其正负电极均位于芯片上面,间距很小;对于InGaN/AlGaN/GaN双异质结,InGaN活化薄层仅几十纳米,对静电的承受能力很小,极易被静电击穿,使器件失效。 %7@H7^s}9  
    J-f0  
         因此,在产业化生产中,静电的防范是否得当,直接影响到产品的成品率、可靠性和经济效益。静电的防范技术有如下几种: @} Z/{Z[@  
    QO>*3,(H,q  
      1.对生产、使用场所从人体、台、地、空间及产品传输、堆放等方面实施防范,手段有防静电服装、手套、手环、鞋、垫、盒、离子风扇、检测仪器等。 SWGa%6|  
    [ O)Zof  
      2.芯片上设计静电保护线路。 2Ee1mbZVw8  
    $P@cS1sB  
      3.LED上装配保护器件。 xq)/QR  
     
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    只看该作者 1楼 发表于: 2011-10-26
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