[推荐]美国光动激光干涉仪MCV-4000介绍 [复制链接]

MCV-4000直线位移、角度、直线度、平面度及垂直度测量系统 %R5-6  
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美国光动公司针对CNC 机床、CMM（三坐标测量机）及其它精密测量机器及平台测量，采用独特的双光束设计，提供快速测量机床台面平面度及机器轴直线与角度误差测量。 MCV-4000的四分仪与光学方镜同样能提供精密的垂直度与直线度测量。 美国光动公司的测量系统采用Laser Doppler Displacement Meter （LDDMTM ）的专利技术，整套系统非常简洁，提供简单方便的保管与运输方式。简单的安装程序可节省整体机器的校准时间，并经NIST（美国国家标准技术局）验证， OPTODYNE激光校验系统可在低成本中保持高准确度要求。 MCV-4000双光束激光设计向使用者提供了单一仪器能简单操作直线和角度测量的能力，如同二个干涉仪一体，当其中一道光束监控角度资料时，另一道光束可监控直线定位情形。使用WindowsTM软件可于任何与 IBM兼容的计算机来执行，操作界面十分友善，可采集测量数据并根据不同工业标准来分析数据。 BD"Dzq  
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主要特色与效益 P*k n}:  
1、同步直线与角度数据采集 |K.I%B  
2、结构简单 、重量轻 ` 0@m,  
3、易于调校与安装 O}C*weU  
4、自动数据采集 V'b4wO1RV  
5、激光准确度经NIST验证 m2m ;|rr  
6、无三脚架及干涉镜 hGKQK ^bn  
7、自动连续角度测量能力 %Ja0:
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8、自动环境补偿 c{kpgN  
9、支持NMTBA、VDI 、ISO及ASME B5.54标准 uBG!R
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主要应用 z$QoMq]  
1、CNC机床、CMM 、导螺杆及DRO校验准 8A0a/ 7Lj  
2、平板校准 E!X>
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3、检验机器偏摆度、横摇度与直线度 ?* +>T@MH  
4、机器轴垂直度 w!`e!}  
5、维护品质管制 |QZ E  
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技术规格 ShQ!'[J  
分辨率： ?yG[VW  
1、定位：        0.01微米 #bcZ:D@FC  
2、角偏：           0.2秒 W
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3、直线度：      以双光束测量法测量：    0.01微米 # a4OtRiI  
           以四象侦测仪测量：    0.1微米 }S*]#jr&  
测量精度 3K||(  
1、定位：        1ppm（即每米1微米） P\@kqf~pC  
2、角偏：        读数的0.2% (-J'x%2)  
3、直线度：      以双光束测量法测量：    读数的0.2% Ca5LLG  
                                    以四象侦测仪测量：     每米8微米 B3yTN6-  
测量范围 k^d^Todq.  
1、定位：           10米（最长可选购到60米） g'!"klS93  
2、角偏：           5米 （最长可选购到30米） ]*MVC
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3、直线度：      以双光束测量法测量：5米（最长可选购到30米） %$Fe
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                以四象侦测仪测量：  5米 [zl4"|_`  
最大可测角偏(双光束)：    ±10度 'PrBa[%  
最大直线度(横向)：       0.5毫米（四象侦测仪） hKg +A  
光靶最大移动速度：       1.8米/秒 cD9U^SOS  
电源：           90~245VAC，50~60赫 R:l&2  
操作环境： q`8 5-  
1、温度：           5~38℃（可选购0~40℃） |oOAy  
2、高度：           0~3000米 Q e/XEW  
3、相对湿度：       0~95%