第二届光电子探测与成像技术及应用国际学术会议暨展览会
第二届光电子探测与成像技术及应用国际学术会议暨展览会
会议及展览时间:2007年9月9日—2007年9月12日 会议及展览地点: 中国.北京理工大学中心教学楼 组织机构: 主办单位: 中国兵工学会 北京理工大学 国际光学工程学会(SPIE) 协办单位: 北方夜视技术股份有限公司 北京威斯顿亚太科技有限公司 日本滨松光子学株式会社 中国宇航学会光学专业委员会 中国光学学会光电专业委员会 北京市光学学会 承办单位: 中国兵工学会光学专业委员会 北京理工大学信息科学技术学院 论文集出版单位:国际光学工程学会(SPIE) 展览承办单位:北京高博特广告有限公司 一、会议及展览主旨 1. 为国内外光电子探测与成像的专家、学者、企业提供一次技术展示 与研讨的机会。 2.为国内外企业搭建一个相互了解的桥梁! 二、参会人员 本次会议将汇集世界各国共500名在光电行业作出卓越成果的专家、学者、企业高层发言。为参展商提供一个与国际光 电著名人士面对面交流 的机会! 三、 会展观众 1.大会主席与500名参会人员将到场参观。参展商可以借此交流技术、商讨合作。 2.大会将组织企业买家到场参观,为参展商带来大量的销售机会。 3. 组织各大中院校的师生到场参观,提高参展商的知名度和美誉度,建立良好的企业形象。 四、参展范围: 1.光电子成像:像管(像增强器与高速摄影变像管);光子计数器件与系统; 摄像器件与系统; 电子光学,微通道板、 光阴极、荧光屏;微 光成像系统。 2.光电子探测:光电探测器材料; 光电探测器;非致冷探测器;探测器性能检测与评价;红外成像与探测系统。 3.图像处理:像质评价与改善;模式识别,图像融合与超分辨力;多维图像处理技术;三维图像获取与处理。 4.光电系统设计、制造与检测:新型光学系统设计与优化;微光学与二元光学及其应用;先进光学制造与检测技术;非 球面和自由曲面元件制 造检测技术; 光学薄膜。 5.相关技术与应用:太赫兹技术; 激光探测与成像;极紫外和X射线探测与成像;光电探测系统成像与评价;光电探测 系统应用。 6.激光材料、激光器及激光应用、红外材料、技术及其应用、光电显示及照明、光学元件、仪器、材料、光通讯技术及 应用。 五、参展费用: 标准展位2米×2米:5000元/单元;(包括咨询桌一张,椅子两把,展板,中英文双语楣板字,射灯两个,20V插座一个 ) 光地展位20000元/16平米;(16平米起租,场地内不含任何设施,特装费自理) 参会费用:1200元/人,外宾:450美元/人 参展联系:北京高博特广告有限公司 联系人:孙柏山(先生) 13641190351 唐 敏(小姐) 13693053774 杜京龙(先生)13641176339 电话:010-88587506/07 传真:010-88587416 地址:北京市海淀区长智路5号财智公馆701/702(100089) 分享到:
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最新评论
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colinin 2008-01-23 15:48有时间去看看 涨见识