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摘要 Bp7p X ,.9 lz 仿真技术的主要作用之一是提供一个平台,以便在系统制造之前研究系统的性能,以便尽可能多地预防潜在的缺陷。杂散光是影响系统性能的最常见现象之一,杂散光可能有多个来源,其中包括系统中的内部伪反射。在这个用例中,我们分析了高Na激光二极管准直透镜系统中这种反射的存在,我们模拟了产生的鬼像对探测场的影响(由主准直光束的干涉引起的同心环图案和由杂散光产生的二次发散),并确定需要在透镜系统的关键表面上涂上抗反射涂层。 :38{YCN S3%2T 6o#/[Tz <K^a2 D 建模任务 J "I,] p}!i_P /lC# !$9vz 6a,8t 5wV J.B~s 准直系统 oIick HN5661;8 Qz|T0\=V b69nj 非序列追迹 Bz } nP9 ~NK $rHwi% Yt#;
+*d5 2@tnOs(* 总结—元件… jOfG}:>e\ Jd7chIK s*Qyd{"z Py
v> =Iop t~ {O)tt 系统光线追迹结果 j<kW+Iio 9 o,`peH C%Lr3M;S' ?P+Uv 完美的减反射(AR)涂层 <w^u^)iLy1 &qg6^& yq;[1O_9C 9~W]D!m, 有内部反射 ^o5;><S] 4:rwzRDY GxzO|vFQ
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