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摘要 8Tp!b
%2. dp'k$el 仿真技术的主要作用之一是提供一个平台,以便在系统制造之前研究系统的性能,以便尽可能多地预防潜在的缺陷。杂散光是影响系统性能的最常见现象之一,杂散光可能有多个来源,其中包括系统中的内部伪反射。在这个用例中,我们分析了高Na激光二极管准直透镜系统中这种反射的存在,我们模拟了产生的鬼像对探测场的影响(由主准直光束的干涉引起的同心环图案和由杂散光产生的二次发散),并确定需要在透镜系统的关键表面上涂上抗反射涂层。 Z.U8d( TF@k{_f QnIF{TS= h$ $i@IO0 建模任务 Dq*O8*#* n55s7wzM [|L~" BB
D<bHRtP /nNrvMtv 准直系统 b5^-qc6X s{0c.M Pbakw81!~ )Tf,G[z&ge 非序列追迹 hx;0h&L
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tI+P&L" 9Pdol! 总结—元件… -W1Apd%> #pWeMt' h09fU5l jd}-&DN
1u_< 1X3 OZ Hfd7K4A 系统光线追迹结果 oP`Qyk x I(X+d`` JS(%: 0M;aTM 完美的减反射(AR)涂层 *|3G"B{w6 7[YulC-pH w\5;;9_# _4X3g%nXl 有内部反射 - ]U2G: rSNaflYAr
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