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摘要 GPs// Vx*O^cM 仿真技术的主要作用之一是提供一个平台,以便在系统制造之前研究系统的性能,以便尽可能多地预防潜在的缺陷。杂散光是影响系统性能的最常见现象之一,杂散光可能有多个来源,其中包括系统中的内部伪反射。在这个用例中,我们分析了高Na激光二极管准直透镜系统中这种反射的存在,我们模拟了产生的鬼像对探测场的影响(由主准直光束的干涉引起的同心环图案和由杂散光产生的二次发散),并确定需要在透镜系统的关键表面上涂上抗反射涂层。 5Gw B1}q ztb?4f q6) T_/ n#e JOFQyhY0>m 建模任务 AD^Q`7K?uR ATscP hk rK} =<R
e> -fI_+b SA[wFc 准直系统 b:t|9FE% ~D\zz }l BH\!yxK x,: DL)$1 非序列追迹 YgL{*XYAt o4F(X0
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h6 总结—元件… s_}q vMYL( ]e g?E8zf ` 2D)B%nM[
^n~bx*f q@[UeXu?pZ 系统光线追迹结果 !j%MN{#a L~|_C Rw IC6r? oF L7dL 完美的减反射(AR)涂层 t5RV-$ 9zE/SDu7\ *w$3/ {L/hhKT 有内部反射 e82xBLxR% )0?u_Z]w9
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