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摘要 f(blqO.@l 1L'Q;?&2H, 仿真技术的主要作用之一是提供一个平台,以便在系统制造之前研究系统的性能,以便尽可能多地预防潜在的缺陷。杂散光是影响系统性能的最常见现象之一,杂散光可能有多个来源,其中包括系统中的内部伪反射。在这个用例中,我们分析了高Na激光二极管准直透镜系统中这种反射的存在,我们模拟了产生的鬼像对探测场的影响(由主准直光束的干涉引起的同心环图案和由杂散光产生的二次发散),并确定需要在透镜系统的关键表面上涂上抗反射涂层。 <fDT/ dR< d7 EirZ}fDJzB hgW1g# 建模任务 [xrsa!$ &g5PPQ18 4@Db $PHs
7%? bl 3imsIBr 准直系统 0asP,)i SpU|Q1Q/h t$Ff$( ru 9@|FgAE 非序列追迹 @MTv4eC}e w:deQ:k
+_pfBJ_$% U?{oxy_[ 2 总结—元件… ;zo|. YD o@.{|j 'NCqI j\bp#+
/Mw;oP{&b :2==7u7v? 系统光线追迹结果 N *$GP3] "]q
xjs^3? BLaNS4e /t7f5mA 完美的减反射(AR)涂层 aZ_3@I{d` gYrB@W;2 R_+:nCB@, =$gBWS 有内部反射 : Bo =<Sn&uL
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