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摘要 b#k$/A@ \I#2Mq? 仿真技术的主要作用之一是提供一个平台,以便在系统制造之前研究系统的性能,以便尽可能多地预防潜在的缺陷。杂散光是影响系统性能的最常见现象之一,杂散光可能有多个来源,其中包括系统中的内部伪反射。在这个用例中,我们分析了高Na激光二极管准直透镜系统中这种反射的存在,我们模拟了产生的鬼像对探测场的影响(由主准直光束的干涉引起的同心环图案和由杂散光产生的二次发散),并确定需要在透镜系统的关键表面上涂上抗反射涂层。 X>F/0/ Tb}`]Y`X I2|iqbX40Q H@__%KBw 建模任务 Pp3tEZfE ^fS~va MsX`TOyO! ]=q?=%H sh}=#eb 准直系统 PWL Mux )F]E[sga 5Z6$90!k YG?W8)T 非序列追迹 sxnj`z 2={`g/WeE #i.M-6SRd <8r%_ '] 总结—元件… tB}&-U|t[~ vYmRW-1Zxq "z< =S Gt\F),@ 04:^<n+{ -UPdgZ_Vxz 系统光线追迹结果 Jh M.P9 398}a!XM @(Ou;Uy
5 ah]E 完美的减反射(AR)涂层 #\@*C= bNY_V;7Kw` cl1h;w9s v~ZdMQvwt 有内部反射 `EBo(^n}O 8_8R$=V =<iK3bPkU
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