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摘要 ,IX4Zo"a #mF Al|O
仿真技术的主要作用之一是提供一个平台，以便在系统制造之前研究系统的性能，以便尽可能多地预防潜在的缺陷。杂散光是影响系统性能的最常见现象之一，杂散光可能有多个来源，其中包括系统中的内部伪反射。在这个用例中，我们分析了高Na激光二极管准直透镜系统中这种反射的存在，我们模拟了产生的鬼像对探测场的影响(由主准直光束的干涉引起的同心环图案和由杂散光产生的二次发散)，并确定需要在透镜系统的关键表面上涂上抗反射涂层。 |\L,r }1N W&q5cz  `0gK;D8t VH1c)FI 建模任务 c 3 ]^f6)? tNNg[;0  QMfy^t+I
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