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摘要 v*5n$UFV yy4QY% 仿真技术的主要作用之一是提供一个平台,以便在系统制造之前研究系统的性能,以便尽可能多地预防潜在的缺陷。杂散光是影响系统性能的最常见现象之一,杂散光可能有多个来源,其中包括系统中的内部伪反射。在这个用例中,我们分析了高Na激光二极管准直透镜系统中这种反射的存在,我们模拟了产生的鬼像对探测场的影响(由主准直光束的干涉引起的同心环图案和由杂散光产生的二次发散),并确定需要在透镜系统的关键表面上涂上抗反射涂层。 -@%*~^~z' wKhuUZj{ m~9Qx`fi` p_Fc:%j> 建模任务 $]4^ENkI 1oaiA/bq St&xe_:^<
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+Q9kh 准直系统 nMD^x SF 61rm k,M%/AXd v$"#9oh 非序列追迹 ~#iRh6^98 @D8c-`LC"*
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3z!#Z 系统光线追迹结果 [AQ6ads) l2>G +t (, e0"R7a VO>A+vx3M 完美的减反射(AR)涂层 #EAP<h &TE=$a:d& STs~GOm- "K`B'/08^ 有内部反射 O>xGH0H 9H?er_6Yf
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