ww1[rCh\+ 时间地点 6'f;-2 主办单位:讯技光电科技(上海)有限公司(微信公众号:infotek)
j3Y['xDv 苏州黉论教育咨询有限公司
K}Qa~_ 授课时间:2024年11月27(三)-29日(五) 共3天 AM 9:00-PM 16:00
y:uE3Apm 授课地点:上海市嘉定区南翔银翔路819号中暨大厦18楼1805室
tCt#%7J;a 课程讲师:讯技光电高级工程师
&oMh]Z*: 课程费用:4800RMB(课程包含课程材料费、开票税金、午餐费用)
5{,<j\#L sYA1\YIii 课程简介 ~P-mC@C 杂光理论和杂光问题研究要从以下几个方面探索:杂散光辐射理论,杂散光合格判定标准、系统杂光测试方法,杂光分析与
软件,BSDF与测量数据,杂光抑制设计等。本课程介绍空间
光学系统的杂散光来源,以及对红外
光学系统成像质量的影响,在简化分析上,讨论了杂散光分析的物理模型,利用已有的光学系统模型讨论了杂散光计算和分析方法。用具体的模型说明杂散光分析和计算假设条件,为以后利用软件进行杂散光分析打下基础。RC望远镜系统,具体突出红外热辐射和冷反射计算,在以往的方法中我们通过计算点列图来实现,但存在诸多的缺陷,如环境与镜筒温度变化、计算量大等缺点,我们将从实际的积分公式出发进行该
望远镜系统仿真。
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v]UwJz3< 课程大纲 CqC`8fD1 1. 杂散光介绍与术语
]`WJOx4 1.1 杂散光路径
QMm%@zH 1.2 关键面和
照明面
;O,jUiQ 1.3杂光内部和外部杂散光
%W S+(0*1 2. 基本辐射度量学-辐射
@H8EWTZ 2.1 BSDF及其散射模型
I&5!=kR 2.2 TIS总散射概念
JucY[`|JV 2.3 PST(点源透射比)
8z\xrY 3. 杂散光分析中的
光线追迹
E]r?{t`] 3.1 FRED软件光线追迹介绍
0"z9Q\{} 3.2构建杂散光模型
F!K>K z • 定义光学和机械几何
|_U= z;Y • 定义光学属性
u*9V&>o 3.3 光线追迹
'J|_2* • 使用光线追迹来量化收敛速度
.=;
; • 重点采样
47/iF97 • 反向光线追迹
\~ wMfP8 • 控制光线Ancestry以增加收敛速度
<1!O1ab • 使用蒙特卡洛光线劈裂增加收敛速度
klhtKp_p • 使用GPU来进行追迹
Y_P!B^z3 • RAM内存使用设置
`Q,H|hp;k; 4.散射模型
j] [,J49L 4.1来自表面粗糙的散射
dAj$1Ke • 低频、中频、高频
}Y4qS • RMS粗糙度与BSDF的关系
?aMOZn? • 由PSD推导BSDF
*X}`PF • 拟合BSDF测量数据
&%Tj/ Qx 4.2 来自划痕(光学损伤坑)的散射
ySI!d|_ 4.3 来自颗粒污染的散射
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