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光学测量 > 干涉测量 Ot/Y?=j~ &18} u~M 任务/系统说明 WLizgVM
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m>a6,#I 亮点 ^ ^)Pv#[3
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9m8`4%y= •从光线追迹分析到快速物理光学建模的简单转换； ,. E:mm •对相干效应以及干涉图样的高速仿真； {)`5*sd
zf^!Zqn[8z 具体要求：光源 AU )Qk$c O/Da8#S<  ogPxj KSI ps Yfz)1; 具体要求：用于准直的消色差透镜 ;;UvK
v rj,Sk~0Q BPC$ v\a  [5:F qA*QFQ'- ,Kdvt@vle  Q%@l`V)Rs KaO8rwzDN 具体要求：分束器 cT ." U^Hymgb%  ,A_itRHH
_{-GR - 具体要求：参考光路反射镜 jb77uH_ Th @L68  {KODwP'~
EV]e xYWB
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t7n*kiN<q 具体要求：测试光路反射镜 rMLCt Gi cC>.`1:  ^W'\8L
oz@yF)/Sm 具体要求：探测器 QK//bV) $(C71M|CT  9;q@;)'5 +dR$;!WB3 结果：3D光线追迹 {iHC;a5gb$ O4(
Z%YBe  v%B^\S3) *bwLi h!}H 结果：场追迹 {Uu7 @1@n b)
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 <r9J+xh*p
i1u & -#k 结果：移动样品的场追迹结果 p`X I (NI H@O YtPHGR  :* @=px 通过扫描样品的轴向位置，可以研究出样品的形貌。 6ffrV
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