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光学测量 > 干涉测量 em]K7B= |]q=D 1/A 任务/系统说明 {#%xq]r_
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 47 RY pd
;1dz?'%V 亮点 |W <:rT
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" uCQm ' •从光线追迹分析到快速物理光学建模的简单转换； ]R@G 5d •对相干效应以及干涉图样的高速仿真； #SYWAcTkO}
Q#N+5<]J)# 具体要求：光源 6:,^CI|@ t 9X%Klm 5w  (2li:1j OGFKc# 具体要求：用于准直的消色差透镜 LC{hoq\ CwvNxH#LVu Q7r,5w& cm  Ic}ofBK b8>9mKs Dkb&/k:)  `VsG a M@ kZ(Rkv 具体要求：分束器 &[RU.Q!_H f
99PwE(=  &w0=/G/T=~
{wP|b@(1t 具体要求：参考光路反射镜 gcxk 'd F 29AjW86  \zU5G#LQ
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tTH %YtG 具体要求：测试光路反射镜 u`@f ~QP0 gN( hv.nQ  BUinzW z{a
!h!9SE 具体要求：探测器 3.X0!M;x =on!&M  Td*Oljj._U .,Qnn}:l 结果：3D光线追迹 ?M M3LA! < UwkX [u  M7R&J'SAY W_\L_)^X 结果：场追迹 f9UaAdJ( ,,@`l\Pgd
 Xp6*Y1Y
':D&c 结果：移动样品的场追迹结果 r)( BT:2m *\KvcRMGUa  z L'IN)7MU 通过扫描样品的轴向位置，可以研究出样品的形貌。 Us,[x Q
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