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    [技术]用于光学相干断层扫描技术的迈克尔逊干涉仪 [复制链接]

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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 10-24
    光学测量 > 干涉测量 4$0jz'  
    M3DxapG  
    任务/系统说明 1 ;_{US5FR  
    66I|0_  
    +CsI,Uf4*  
    ,"P5D&,_  
    亮点 s$f+/Hs  
    T [T6  
    k)N2 +/  
    e#l*/G*,  
    •从光线追迹分析到快速物理光学建模的简单转换; Z-N-9E  
    •对相干效应以及干涉图样的高速仿真 Vpug"aR&_  
    yf `.%  
    具体要求:光源 UI|v/(_^F  
    2uvQf&,  
    z1Bj_u{  
    Gl?P.BCW.&  
    具体要求:用于准直的消色差透镜 PWf{aHsr  
    ^tm++  
    l(h;e&9x  
    1_Dn?G^H  
    .yctE:n  
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    t 3(%UB  
    m&Y; /kr  
    具体要求:分束器 pr0@sri@  
    pRQ fx^ On  
    JVJ1Ay/be  
    |@o]X?^  
    具体要求:参考光路反射镜 &[?u1qQ%o  
    L Q I: ]d  
    1R5\GKF6o  
    hRuo,FS#:  
    s=^r/Sz902  
    ,Az`6PW  
    具体要求:测试光路反射镜 :GwSs'$O  
    ,<uiitOo  
    ^7ea6G"  
    EzD -1sJ  
    具体要求:探测器 G+#| )V  
    ]YisZE4s  
    ooLnJ Y#  
    AiyvHt  
    结果:3D光线追迹 cXLV"d  
    f_re"d 3u  
    VgFF+Eg  
    X/`#5<x  
    结果:场追迹 `_J^g&y~  
    y~]I Vl"  
    Y^c,mK^  
    G*vpf~q?  
    结果:移动样品的场追迹结果 AhbT/  
    0p:ClM 2O  
    *f0.=?  
    通过扫描样品的轴向位置,可以研究出样品的形貌。 c:h.J4mv  
     
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