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    [技术]用于光学相干断层扫描技术的迈克尔逊干涉仪 [复制链接]

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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 10-24
    光学测量 > 干涉测量 |6&"r&  
    0{j>u`  
    任务/系统说明 Jjy}m0)#W_  
    ^iGIF~J9  
    1D*e u  
     We" "/X  
    亮点 BFMM6-Ve  
    -Wmpj  
    D`LwW` 9  
     Me8d o; G|  
    •从光线追迹分析到快速物理光学建模的简单转换； eQ*gnV}rE%  
    •对相干效应以及干涉图样的高速仿真； C6Kz6_DQZ  
     t >8t|t+  
    具体要求：光源 ,@P3!|  
    i3kI{8h  
    _z}d yp"I  
    KR{kn[2|Q  
    具体要求：用于准直的消色差透镜 g]3-:&F{c  
    ~zuMX ;[  
    J +9D/VT  
    |5O%@  
    2bCa|HTv  
    lRO4- y  
    x.d9mjLN8m  
    ncWASw`  
    具体要求：分束器 ?"L>jr(  
    i4->XvC  
    |C5i3?  
     w("jyvV[C  
    具体要求：参考光路反射镜 -8EdTc@  
    Q,s,EooIx  
    !{SEm"J^  
    0a(*/u  
    vK6bpzI 3  
     C#gQJ=!B  
    具体要求：测试光路反射镜 D]4?UL  
    +[cm  
    hwexv 9""  
     b?r0n]  
    具体要求：探测器 s$RymM  
    q6osRK*20  
    `pLp+#1 `R  
    {"@Bf<J#  
    结果：3D光线追迹 0ai4%=d-  
    E fqa*,k  
    F`Pu$>8C  
    &*0!${ B  
    结果：场追迹 bf}r8$,  
    L:'Y#VI{  
    E6n;_{Se/S  
     8y+Gvk:  
    结果：移动样品的场追迹结果 ~L?p/3m   
    L*FnFRhU  
    fF>H7  
    通过扫描样品的轴向位置，可以研究出样品的形貌。 dkCSqNFL)  
     
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