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光学测量 > 干涉测量 gFWEodx,9 x J[k#?T' 任务/系统说明 }@ O| RkY
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jV,(P$ 5; 亮点 Sy+]SeF&
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U:mq7Rd8 •从光线追迹分析到快速物理光学建模的简单转换； (n":] 8} •对相干效应以及干涉图样的高速仿真； d I#8CO
!LHzY( 具体要求：光源 [6,]9|~ I{ ?E /Sc  1K?
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J2 C 0t+Q 具体要求：用于准直的消色差透镜 g:.,}L qrkRD*a .yK\&q[<  |"Xi%CQ2 |l6<GWG+ NgE &KPj\  L#7)X5a__ F $6])F 具体要求：分束器 V 9QvQA
r eZR8<Z %  e\d5SKY
b2}QoJ@` 具体要求：参考光路反射镜 pU:C =hq4 6PzN>+t^y  :{wsd$Qlj
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MUCJ/GF* 具体要求：测试光路反射镜 Z5*(W;; (Qx-K RH  5|6z1{g8
86^ZYh 具体要求：探测器 mf*9^}l+Zn Lilk8|?#W  ~/|unV `G ;Lz^ 结果：3D光线追迹 w}U5dM` o%4&1^ Vg  H%01&u vHI"C % 结果：场追迹 PO%yWns30o ziLr }/tg
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ir@N>_ 结果：移动样品的场追迹结果 -aH?7HV } i"sYf9,  3'sWlh f; 通过扫描样品的轴向位置，可以研究出样品的形貌。 QN} 3S0
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