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光学测量 > 干涉测量 w eu3c`-a FyY<Vx'yQ 任务/系统说明 x=] PE}<E
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#4?Z|_j3 亮点 fR]%:'2k
MOp06
 OcW y#,uC
a8$g XX-2 •从光线追迹分析到快速物理光学建模的简单转换； Y;n;7M<F •对相干效应以及干涉图样的高速仿真； O{@m , uY
C5k\RS9 具体要求：光源 33/aYy ,-({ m'  1FC' iGI uv>T8(w 具体要求：用于准直的消色差透镜 fZ8at dB`3"aSN7 V) Oj6nD]  GB MCw `*Ar6 WJ D1U?`  @-9u;aL #RIo6 3 具体要求：分束器 =gG_ %]``R rwYl g:  g3*" ^C2=
dG {D 2~# 具体要求：参考光路反射镜 E}&Z=+v} T8*<  ;ndsq[k>
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n+B h-a V 具体要求：测试光路反射镜 ? dD<KCbP, iobL6SUZ  I) 9un|+,y
ah1DuTT/G 具体要求：探测器 g A`x-` /d<"{\o  f [}N )}{V#,xz@ 结果：3D光线追迹 -&3WN!egq '1o1=iJN@$  eYJ6&).F }1N $4@
结果：场追迹 Ws _R S% $8k Q M
 Ai99:J2k
P[|FK(l 结果：移动样品的场追迹结果 7h Qf
T76h E Z^eEDZ  ;a]Lxx;- 通过扫描样品的轴向位置，可以研究出样品的形貌。 v\LcZt`}
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