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    [技术]用于光学相干断层扫描技术的迈克尔逊干涉仪 [复制链接]

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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2024-10-24
    光学测量 > 干涉测量 eEZZ0NNe;  
    X 3(CY`HH[  
    任务/系统说明 ~@%#eg  
    =j^wa')  
    a?]~Sw"@  
    ()ZP =\L  
    亮点 eQ80Kf~  
    \o<&s{ 6L  
    |gwGCa+  
    ,c6c=di  
    •从光线追迹分析到快速物理光学建模的简单转换; ^<`uyY))Q  
    •对相干效应以及干涉图样的高速仿真 L5n/eg:Q  
    ' )~G2Ys  
    具体要求:光源 `^'0__<M  
    uXm}THI  
    B]wfDUG  
    $m[* )0/  
    具体要求:用于准直的消色差透镜 @M=\u-jJ.  
    ~^v*f   
    Ur,{ZGm  
    KF}_|~~T  
    (Nn)_caVb  
    @tVl8]y  
    (AswV7aGe  
    _[{oK G^u  
    具体要求:分束器 ey ?paT  
    Np>0c -S  
    ]~kgsI[E  
    RWdx) qj{  
    具体要求:参考光路反射镜 T&u25"QOf  
    TSKR~3D#  
    y;ymyy&  
    a{+;&j[!  
    r`A|2(h5B  
    6bd{3@   
    具体要求:测试光路反射镜 fk'DJf[M  
    .Dt.7G  
    (Z#j^}G_l  
    CQI\/oaO  
    具体要求:探测器 TQsTL2a  
    TykY>cl   
    2O " ~k  
    8 _|"+Ze  
    结果:3D光线追迹 R/ 3#(5  
    mExJ--}  
    pL`)^BJ  
    gM_MK8py  
    结果:场追迹 0*50uK=5  
    yPT\9"/  
    3Nk )  
    wOrpp3I  
    结果:移动样品的场追迹结果 x4[ Fn3JL  
    I^!c1S  
    of0 hJR  
    通过扫描样品的轴向位置,可以研究出样品的形貌。 41^ $  
     
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