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    [技术]用于光学相干断层扫描技术的迈克尔逊干涉仪 [复制链接]

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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2024-10-24
    光学测量 > 干涉测量 +u]L# ].;  
    t?6_^ 08  
    任务/系统说明 SRBQ"X[M2  
    Sz3Tp5b  
    YDo Vm?  
    fkW TO"f-  
    亮点 fqQ(EVpQ  
    @>4=}z_e  
    HI*j6H?\  
    CHo(:A.U>  
    •从光线追迹分析到快速物理光学建模的简单转换; ,!'L~{  
    •对相干效应以及干涉图样的高速仿真 SXx;- Ws  
    6}S1um4 F  
    具体要求:光源 HA W57N  
    cBz_L"5vr[  
    _7qGo7bpN  
    'H.,S_v1x  
    具体要求:用于准直的消色差透镜 l d@B  
    "5@k\?x"  
    fx `oe  
    b am*&E%0K  
    \CDzVO0^  
    1Z| {3W  
    R<AT}!mkR  
    u&\QZW?  
    具体要求:分束器 C#Y_La  
    [yf&]0  
    zb=L[2;  
    "O j2B|:s&  
    具体要求:参考光路反射镜 AKkr )VgY  
    T>\ r}p  
    6Lhfb\2?  
    ZclZD{%8J  
    mw,\try  
    m#kJ((~  
    具体要求:测试光路反射镜 vh">Z4  
    @h$4Mt7N  
    D^jyG6Ch  
    byB ESyV!O  
    具体要求:探测器 #HF;yAc  
    u#sbr8Y  
    iD-,C`  
    X!/o7<  
    结果:3D光线追迹 g (:%E  
    %\ef Mhn  
    C^W9=OH  
    )|SmB YV  
    结果:场追迹 LtIw{* 3  
    pk5W!K  
    tP ;^;nw  
     XBF]|}%  
    结果:移动样品的场追迹结果 }'.k  
    ZlxJY%o eu  
    h%yw'?s  
    通过扫描样品的轴向位置,可以研究出样品的形貌。 @ %}4R`S0  
     
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