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    [技术]用于光学相干断层扫描技术的迈克尔逊干涉仪 [复制链接]

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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2024-10-24
    光学测量 > 干涉测量 Z1DF)  
    x=1Sbs w{  
    任务/系统说明 *jy"g64j  
    ^Ov+n1,)  
    CyJZip  
    j<vU[J+gx~  
    亮点 7"{CBbT  
    wV{VV?h}  
    Q,\S3>1n  
    PE+{<[n  
    •从光线追迹分析到快速物理光学建模的简单转换; uU8L93  
    •对相干效应以及干涉图样的高速仿真 u$1^=  
    ${7s"IX  
    具体要求:光源 /^ [K  
    N*Xl0m(Q  
    jx];=IC3tt  
    *zDL 5 9  
    具体要求:用于准直的消色差透镜 -k3WY&9,  
    6IL-S%EGK1  
    `?vI_>md'!  
    Qlhm:[  
    S)A;!}RK6  
    3;EBKGg|  
    V5d|Lpm  
    ; 5!8LmZ0#  
    具体要求:分束器 S2 YxA  
    h &IF ?h  
    D+Z,;XZ  
    nZkMyRk  
    具体要求:参考光路反射镜 .J9\Fr@  
    wafws*b%  
    /C[XC7^4'  
    4' <y  
    -.7UpDg~  
    X#u< 3<P  
    具体要求:测试光路反射镜 )Z@hk]@?_[  
    q62U+o9G  
    g+u5u\k  
    jD_B&MQz  
    具体要求:探测器 Y/34~lhyl  
    qnU$Pd  
    hKFB=U  
    *(Us:*$W.  
    结果:3D光线追迹 qk\LfRbj  
    6)#%36rP  
    _K|?;j#x0k  
    ut9R] 01:  
    结果:场追迹 (:J U  
    Kr;F4G|Qt  
    AG,;1b,:81  
    m:5bb 3  
    结果:移动样品的场追迹结果 5lakP?  
    '5SO3/{b  
    %{";RfSVX%  
    通过扫描样品的轴向位置,可以研究出样品的形貌。 #'h(o/hz&&  
     
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