-
UID:317649
-
- 注册时间2020-06-19
- 最后登录2025-02-21
- 在线时间1734小时
-
-
访问TA的空间加好友用道具
|
摘要 ;UgwV/d \Y"S4<"R 干涉测量是一种光学计量的重要技术。 它被广泛应用于表面轮廓,缺陷,机械和高精度热变形等领域的测量。 作为一个典型的例程,在非序列场追迹的帮助下,我们在VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-曾德尔干涉仪,本案例清楚地展示了光学元件的倾斜和移位对干涉条纹图案的影响。 m%u`#67oK 0qNmao4E_ 建模任务 =(hBgNH I2HV{1(i Czw]5 元件倾斜引起的干涉条纹 >;Oa|G ;taZixOH kSEA 元件移位引起的干涉条纹 \y?*} L Xh}q/H<
|