cb36 ~{ 时间地点 4)]w"z0Pc 主办单位:讯技光电科技(上海)有限公司
+f5|qbX/\ 苏州黉论教育咨询有限公司
hbZ]DRg 授课时间:2024年9月20(五)-22(日)共3天 AM 9:00-PM 16:00
'*4>&V.yX 授课地点:深圳市光明区凤凰街道光明大道与科裕路交汇处尚智科园1栋1B座1503室
F4P=Wz] 课程讲师:讯技光电高级工程师
0^%\! Xxq 课程费用:4800RMB(课程包含课程材料费、开票税金、午餐)
@.rVg XE=! WUC-*( 课程简介 :ik$@5wp 杂光理论和杂光问题研究要从以下几个方面探索:杂散光辐射理论,杂散光合格判定标准、系统杂光测试方法,杂光分析与
软件,BSDF与测量数据,杂光抑制设计等。本课程介绍空间
光学系统的杂散光来源,以及对红外
光学系统成像质量的影响,在简化分析上,讨论了杂散光分析的物理模型,利用已有的光学系统模型讨论了杂散光计算和分析方法。用具体的模型说明杂散光分析和计算假设条件,为以后利用软件进行杂散光分析打下基础。
3HtLD5%Q 课程分为两部分,第一部分:杂散光分析与控制技术(2.5天),第二部分:角分辨散射光测量技术(0.5天)
\VL_ Z)JJ-V!
课程大纲 Kmk}Yz 1. 杂散光介绍与术语
#sHA!@ | 1.1 杂散光路径
N+)gYb6h 1.2 关键面和
照明面
2/*F}w/ 1.3杂光内部和外部杂散光
[{s 1=c 2. 基本辐射度量学-辐射
Vki'pAN 2.1 BSDF及其散射模型
v~l_6V} 2.2 TIS总散射概念
n jfh4}g: 2.3 PST(点源透射比)
/KL;%:7 3. 杂散光分析中的
光线追迹
{c
82bFiv 3.1 FRED软件光线追迹介绍
os:/-A_m 3.2构建杂散光模型
6}V)\"u& 定义光学和机械几何
;q=0NtCS=4 定义光学属性
bHJKX>@{ 3.3 光线追迹
{|R@\G.1( 使用光线追迹来量化收敛速度
~ RdD6V 重点采样
UU7E+4O& 反向光线追迹
o+NPe36 控制光线Ancestry以增加收敛速度
P4\{be>e 使用蒙特卡洛光线劈裂增加收敛速度
8LI
aN} 使用GPU来进行追迹
7g* "AEk RAM内存使用设置
EnM }H9A
v jTs[eq> 4.散射模型
*\-R&