[培训]线下课程——杂散光整体解决方案(9.20~9.22 深圳) [复制链接]

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时间地点
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主办单位：讯技光电科技（上海）有限公司 ov=[g l  
苏州黉论教育咨询有限公司 24)3^1P\V  
授课时间：2024年9月20(五）-22（日）共3天  AM 9:00-PM 16:00 Q`qHzb~%  
授课地点：深圳市光明区凤凰街道光明大道与科裕路交汇处尚智科园1栋1B座1503室 T'cahkSw'O  
课程讲师：讯技光电高级工程师 O/9dPod  
课程费用：4800RMB(课程包含课程材料费、开票税金、午餐) 6BihZ
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课程简介 0@y
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杂光理论和杂光问题研究要从以下几个方面探索：杂散光辐射理论，杂散光合格判定标准、系统杂光测试方法，杂光分析与软件，BSDF与测量数据，杂光抑制设计等。本课程介绍空间光学系统的杂散光来源，以及对红外光学系统成像质量的影响，在简化分析上，讨论了杂散光分析的物理模型，利用已有的光学系统模型讨论了杂散光计算和分析方法。用具体的模型说明杂散光分析和计算假设条件，为以后利用软件进行杂散光分析打下基础。 Wb] ha1$  
课程分为两部分，第一部分：杂散光分析与控制技术（2.5天），第二部分：角分辨散射光测量技术（0.5天） $T
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课程大纲 gc 14%  
1. 杂散光介绍与术语 4eym$UWw  
1.1 杂散光路径 bUf2uWy7  
1.2 关键面和照明面 W27EU/+3  
1.3杂光内部和外部杂散光 *v[WJ"8@  
2. 基本辐射度量学-辐射 b8QA>]6A  
2.1 BSDF及其散射模型 0sv#* &0=  
2.2 TIS总散射概念 uoYG@L2  
2.3 PST(点源透射比) [a;U'v*  
3. 杂散光分析中的光线追迹 Vf#X[$pc/  
3.1 FRED软件光线追迹介绍 nk,X6o9%  
3.2构建杂散光模型 ]A:n]mL  
 定义光学和机械几何 bb#F2r4  
 定义光学属性 8,pnm  
3.3 光线追迹 oZxC.;xJ  
 使用光线追迹来量化收敛速度 {(@M0?  
 重点采样 .(OFYK<  
 反向光线追迹 c(.2D  
 控制光线Ancestry以增加收敛速度 H3YFbR  
 使用蒙特卡洛光线劈裂增加收敛速度 05mjV6j7m  
 使用GPU来进行追迹 >(s)S[\  
 RAM内存使用设置 N/QTf1$  
vT V'D&x2  
4.散射模型 Y '&&1R  
4.1来自表面粗糙的散射 EELS-qA  
 低频、中频、高频 Xm./XC  
 RMS粗糙度与BSDF的关系 k/A8|  
 由PSD推导BSDF "d60IM#N?  
 拟合BSDF测量数据 <(dHh9$~  
4.2 来自划痕(光学损伤坑)的散射 n}MW# :eJe  
4.3 来自颗粒污染的散射 *2ZX*w37  
 来自球形颗粒中的散射（米氏散射理论） Hn5:*;N  
 颗粒密度函数模型 v/{LC
4BF  
 案例：计算激光通过金属粉尘的吸收 TU4"7]/{M  
4.4 来自黑处理表面的散射 >4>!zZ  
4.5 孔径衍射 fr$E'+l)  
 杂散光程序中的孔径衍射 zdFO&YHTw  
 衍射元件的衍射特性 ct+ ;W  
 案例：衍射杂散光分析 nFU'D
Z  
5. 大气湍流散射 cRPW  
6 热辐射 1*\JqCR  
 红外热辐射的杂散光分析 u}ULb F  
 冷反射仿真 P(BjXMd  
7. 鬼像反射 T8( \:v
 
 鬼像反射 *Y"Kbn6  
 表面镀膜 o$]wd*+  
 表面镀AR增透膜的仿真 | +osEHC  
8. 光学设计中的杂散光控制 36mp+}R#  
8.1使用视场光阑 od=%8z  
8.2减小孔径光阑和焦平面间的几何元件数量 6%bZZTP`  
8.3使用眩光光阑（Lyot stop） v?e@`;- <  
8.4使用光瞳掩膜来阻止衍射及来自支柱的散射 JDcc`&`M  
8.5 使用滤光 yd#SB)&  
8.6 显微镜中的杂散光分析 qdkhfm2(K
 
9. 挡板和冷窗的设计 Vmq:As^a  
9.1主挡板和冷屏的设计 *->2$uWP  
9.2 挡光环的设计 ZbVo<p5* ]  
 槽型挡光环 04ZP\  
 挡板挡光环最佳孔径、深度、间隔 {;uOc{~+  
 案例：望眼镜系统的挡板的优化 G`H4
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10. 角分辨散射光测量技术 _L}k.  
10.1  PSD测量技术与PSD转BSDF q<.m@q  
10.2  BSDF散射测量仪光路结构介绍 d:C|laZHn  
10.3  BSDF散射测量关键参数介绍 xNlxi  
10.4  使用BSDF测量数据提升仿真精度 RCM;k;@8V  
11.答疑 2d),*Cvf  
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