切换到宽版
  • 广告投放
  • 稿件投递
  • 繁體中文
    • 278阅读
    • 2回复

    [求助]镀膜后环测双85实验,外观有水渍点无法去除,什么原因? [复制链接]

    上一主题 下一主题
     
    发帖
    56
    光币
    30
    光券
    0
    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 06-24
    镀膜设备,光驰OTFC,工艺条件:Ta2O5+SIO2,   温度:320℃,射频源 >n"0>[:4  
    l=CAr  
    r%U6,7d=)  
     
    分享到
    离线ouyuu
    发帖
    554
    光币
    3316
    光券
    1
    只看该作者 1楼 发表于: 07-15
    两个可能。1,离子源的中和电流不够,导致膜内有电荷积聚,调大中和电流试试。 J&A1]T4d  
    2,片子洗净的问题,镀前用离子源多轰一下,看看有没有改善。 6$urrSQ`N0  
    ;'S,JGpvT  
    另外中和器偶尔的打火也有可能造成电荷积聚,但这个不会每炉都会实现。 IuXgxR%  
    离线renlgj
    发帖
    180
    光币
    56
    光券
    0
    只看该作者 2楼 发表于: 07-18
    学习中,谢谢楼上各位