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    [求助]镀膜后环测双85实验,外观有水渍点无法去除,什么原因? [复制链接]

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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 06-24
    镀膜设备,光驰OTFC,工艺条件:Ta2O5+SIO2,   温度:320℃,射频源 lnxA/[`a  
    >\5ZgC  
    +hT9V1'-D  
     
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    离线ouyuu
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    只看该作者 1楼 发表于: 07-15
    两个可能。1,离子源的中和电流不够,导致膜内有电荷积聚,调大中和电流试试。 nm,Tng oj  
    2,片子洗净的问题,镀前用离子源多轰一下,看看有没有改善。 #|e5i9l*B  
    9+>%U~U<  
    另外中和器偶尔的打火也有可能造成电荷积聚,但这个不会每炉都会实现。 -g vS 3`lX  
    离线renlgj
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    只看该作者 2楼 发表于: 07-18
    学习中,谢谢楼上各位