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摘要 B|&"#Q PZ*pQ=` AqV7\gdOC uxzze~_+C 干涉测量法是一项用于光学测量的重要技术。它被广泛应用于表面轮廓、缺陷、机械和热变形的高精度测量。作为一个典型示例,在非序列场追迹技术的帮助下,于 VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-泽德干涉仪。该例证明了光学元件的倾斜和位移对干涉条纹图的影响。 V7Mh-] )lZp9O 建模任务 YWxc-fPZ
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d-Tv`L# 由于组件倾斜引起的干涉条纹 LH@j8YB5u >b]S3[Q( R@`y>X GNJ Q
!(pE& 由于偏移倾斜引起的干涉条纹 <0PT"ij 9s_,crq5 "1HRLci fOMvj%T@2 文件信息 p^'3Odd|O z~>pVs kVy\b E0o
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