-
UID:317649
-
- 注册时间2020-06-19
- 最后登录2025-04-08
- 在线时间1761小时
-
-
访问TA的空间加好友用道具
|
摘要 Jl^oDW iPkG=*Ip(%
r
Ssv^W+ %X.Q\T 干涉测量法是一项用于光学测量的重要技术。它被广泛应用于表面轮廓、缺陷、机械和热变形的高精度测量。作为一个典型示例,在非序列场追迹技术的帮助下,于 VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-泽德干涉仪。该例证明了光学元件的倾斜和位移对干涉条纹图的影响。 @MN>ye'T A 4&e# 建模任务 }hBv?B2/1 zV2c`he%z
[s7I.rdGzz (@&| 由于组件倾斜引起的干涉条纹 eueXklpg+ 3K#e]zoI
[KjQW/sb' uAJ_`o[ 由于偏移倾斜引起的干涉条纹 tKJ)'v? |E?%Cj^W
f0hi70\(X :ss9- 文件信息 m\~[^H~g "=
%-
{'vvE3iZ
|