时间地点:
;c~cet4 主办单位:讯技光电科技(上海)有限公司;苏州黉论教育咨询有限公司
kpL@P oQ/r 授课时间:2023年11月27(一)-29日(三)共3天 AM 9:00-PM 16:00
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R 授课地点:上海市嘉定区南翔银翔路819号中暨大厦18楼1805室
wW>zgTG 课程讲师:讯技光电高级工程师
|8mhp.7 课程费用:4800RMB(课程包含课程材料费、开票税金、午餐费用)
,@1p$n 课程简介:
(" LQll9 杂光理论和杂光问题研究要从以下几个方面探索:
杂散光辐射理论,杂散光合格判定标准、系统杂光测试方法,杂光分析与软件,BSDF与测量数据,杂光抑制设计等。本课程介绍空间
光学系统的杂散光来源,以及对红外
光学系统成像质量的影响,在简化分析上,讨论了杂散光分析的物理模型,利用已有的光学系统模型讨论了杂散光计算和分析方法。用具体的模型说明杂散光分析和计算假设条件,为以后利用软件进行杂散光分析打下基础。RC望远镜系统,具体突出红外热辐射和冷反射计算,在以往的方法中我们通过计算点列图来实现,但存在诸多的缺陷,如环境与镜筒温度变化、计算量大等缺点,我们将从实际的积分公式出发进行该望远镜系统仿真。
d\x7Zw> 课程大纲:
w0w G-R ? 1. 杂散光介绍与术语
m'P1BLk 1.1 杂散光路径
g?-lk5 1.2 关键面和
照明面
\fA{1 1.3杂光内部和外部杂散光
d>;&9;)H 2. 基本辐射度量学-辐射
u6>?AW1~ 2.1 BSDF及其散射模型
S*j6OwZ 2.2 TIS总散射概念
lY|Jr{+Ln 2.3 PST(点源透射比)
"Rn3lj0 3. 杂散光分析中的光线追迹
>e\9Bf_
xX*H7# 3.1 FRED软件光线追迹介绍
;"(foY"L 3.2构建杂散光模型
NR;1z 定义光学和机械几何
'cY` w 定义光学属性
n6s}ww) 3.3 光线追迹
r.4LU 使用光线追迹来量化收敛速度
me[DmiM, 重点采样
,9WBTH8 反向光线追迹
9U$EJN_G 控制光线Ancestry以增加收敛速度
^Z~;4il_F 使用蒙特卡洛光线劈裂增加收敛速度
9Xx's%U 使用GPU来进行追迹
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