时间地点:
xG802?2i/; 主办单位:讯技光电科技(上海)有限公司;苏州黉论教育咨询有限公司
2(_+PQ6C= 授课时间:2023年11月27(一)-29日(三)共3天 AM 9:00-PM 16:00
\ C^fi}/] 授课地点:上海市嘉定区南翔银翔路819号中暨大厦18楼1805室
~;m3i3D 课程讲师:讯技光电高级工程师
XiP xg[; 课程费用:4800RMB(课程包含课程材料费、开票税金、午餐费用)
zli@X Z# 课程简介:
y">_$ 杂光理论和杂光问题研究要从以下几个方面探索:
杂散光辐射理论,杂散光合格判定标准、系统杂光测试方法,杂光分析与软件,BSDF与测量数据,杂光抑制设计等。本课程介绍空间
光学系统的杂散光来源,以及对红外
光学系统成像质量的影响,在简化分析上,讨论了杂散光分析的物理模型,利用已有的光学系统模型讨论了杂散光计算和分析方法。用具体的模型说明杂散光分析和计算假设条件,为以后利用软件进行杂散光分析打下基础。RC望远镜系统,具体突出红外热辐射和冷反射计算,在以往的方法中我们通过计算点列图来实现,但存在诸多的缺陷,如环境与镜筒温度变化、计算量大等缺点,我们将从实际的积分公式出发进行该望远镜系统仿真。
p i;,?p- 课程大纲:
tbx* }uy2 1. 杂散光介绍与术语
v]"W.<B, 1.1 杂散光路径
*aE/\b 1.2 关键面和
照明面
b4l=Bg" 1.3杂光内部和外部杂散光
9qhX\, h 2. 基本辐射度量学-辐射
<W,M?r+
2.1 BSDF及其散射模型
zQ;jaS3hf 2.2 TIS总散射概念
f-w-K)y$ht 2.3 PST(点源透射比)
~/R,oQ1!g} 3. 杂散光分析中的光线追迹
4Dd@&N
(MI8Kkb1d 3.1 FRED软件光线追迹介绍
[|
\Z"
3.2构建杂散光模型
03] 定义光学和机械几何
\I!C`@0 定义光学属性
v[3QI7E3 3.3 光线追迹
\0K3TMl)J 使用光线追迹来量化收敛速度
RmR-uQU-c 重点采样
m :6. 反向光线追迹
R)p+#F(s 控制光线Ancestry以增加收敛速度
m7GM1[?r 使用蒙特卡洛光线劈裂增加收敛速度
xq U@87[_ 使用GPU来进行追迹
3Kv~lo^ RAM内存使用设置
U
Bo[iZ|% 4.散射模型
i ,[S1g 4.1来自表面粗糙的散射
+pGkeZX 低频、中频、高频
&#keI., RMS粗糙度与BSDF的关系
Y[(U~l,a+ 由PSD推导BSDF
Gxtqzr* 拟合BSDF测量数据
byT@O:f L 4.2 来自划痕(光学损伤坑)的散射
R2]2#3` 4.3 来自颗粒污染的散射
/|
nZ)? 来自球形颗粒中的散射(米氏散射理论)
aan)yP 颗粒密度函数模型
nnv&