[技术]通过瑞利判据对显微镜物镜进行分辨率研究 [复制链接]

摘要 <`*v/D7\02  
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通常可以采用瑞利判据理论表征显微镜的分辨率，瑞利判据是1896年由第三代瑞利男爵约翰·威廉·斯特拉特(John William Strutt)提出的。该理论认为，当一个艾里图样的中心与另一个艾里图样的第一个最小值重叠时，就可以分辨它们。在这个例子中，我们根据瑞利的理论，检验不同数值孔径(NA)显微物镜的分辨率。 gBE1aw;  
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 从Zemax OpticStudio®导入透镜系统 }}~ t!/x  
- 从Zemax导入光学系统 [用例] p|R]/C0f  
 分析实际透镜系统的成像性能 R,[+9U|4V  
- 分析高NA物镜聚焦 [用例] R86:1  
 使用Debye-Wolf积分作为参考 *(]@T@yN  
- Debey-Wolf积分计算器 [用例] -xc'P,`  
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